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材料研究方法复习 （b）饱和碳原子上的—C—H 影响峰位变化的因素 红外谱图解析 化学位移： 位移的表示方法 自旋偶合与自旋裂分 第五章 热分析 电磁透镜的分辨本领 （3）景深 由于二次电子信号主要来自样品表层5-l0 nm深度范围，它的强度与原子序数没有明确的关系，而仅对微区刻面相对于入射电子束的位向十分敏感，且二次电子像分辨率比较高，所以特别适用于显示形貌衬度。 入射电子束与试样表面法线间夹角愈大，二次电子产额愈大 X射线衍射定律 2d sinθ = nλ 1)透射电子：透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体 结构决定。用于TEM的成像和衍射。 2)背散射电子：入射电子穿透到离核很近的地方被反射，而没 有能量损失，来自样品表面几百nm深度范围；其产额随 原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。 3)二次电子：入射电子撞击样品表面原子的外层电子，把它激 发出来，就形成低能量的二次电子，来自表层5-10nm深度范围；对样品表面化状态十分敏感。不能进行成分分析，主要用于分析样品表面形貌。 4)特征X射线：如果入射电子把样品表面原子的内层电子 撞出，被激发的空穴由高能级电子填充，能量以电磁 辐射的形式放出，就形成特征X射线，来自样品较深的 区域。可用于元素分析。 5)俄歇电子：如果入射电子把外