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オルソポジトロニウムの寿命測定による束縛系QEDの実験的検証 東大素粒子センター(ICEPP) 片岡洋介 束縛系QED 自由粒子のQED 高次の輻射補正の計算手法が確立されている 束縛系QED 高次の輻射補正の扱いが難しく、一般的な計算手法が確立されていない 近年、NRQEDなどの計算手法が開発された オルソポジトロニウムの寿命に関してO(α2)の補正が計算されている G.S.Adkins, R.N.Fell, and J.Sapirstein (2000) オルソポジトロニウム ポジトロニウム e+e-の束縛系 パラポジトロニウム(スピン1重項) 2γに崩壊、寿命125ps オルソポジトロニウム(スピン3重項) 　3γに崩壊、寿命142ns オルソポジトロニウムは束縛系QEDのよいプローブ 寿命の直接測定が可能 純粋にレプトンの系、ハドロンの不定性がない O(α2)の計算例がある ～200ppm 現在の状況 東大、ミシガン大を中心に測定が行われている 90年代にはオルソポジトロニウムの寿命問題と呼ばれる計算値とのずれが解決 現在の実験精度は約200ppm O(α)補正 約2% O(α2)の補正約200ppm O(α2)の補正項を検証する実験を立ち上げた ～ 100ppm以下 寿命測定の方法 β+線源 68Geのe+を用いる 　薄いプラスチック