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ch8 §3.2均值检验 例2 例3 例4 例5 大子样 §3.2 均值的假设检验 拒绝域的推导 设 X ~N(?? ?2)，?2 已知，需检验： H0: ? ? ?0 ； H1: ? ??0 构造统计量 给定显著性水平?与子样值(x1,x2,…,xn ) 一个正态母体 P(拒绝H0|H0为真) 所以本检验的拒绝域为 W： U 检验法 ? ? ?0 ? ??0 ? ? ?0 ? ? ?0 ? ?0 ? ?0 u 检验法 (?02 已知) 原假设 H0 备择假设 H1 检验统计量及其 H0为真时的分布 拒绝域 u检验法 ? ? ?0 ? ??0 ? ? ?0 ? ? ?0 ? ?0 ? ?0 t检验法 (?2 未知) 原假设 H0 备择假设 H1 检验统计量及其 H0为真时的分布 拒绝域 t 检验法 例1 在正常情况下每台织布机一小时内经纱平均断头数为0.975根. 20台织布机经工艺改革后每台一小时内经纱平均断头数为0.915根,标准差为0.16根.检验工艺改革后经纱平均断头数与改革前有无显著差异？ 例1 假设断头数 X~ N (? ,? 2), 显著性 水平取 0.05. 解 选用统计量: 拒绝域 W : 故接受原假设, 即改革后经纱平均断 头数与改革前无显著差异. 现 假设 H0 : ? = 0.975; H1:? = 0.975. ? ? ?0 ? ??0 ? ? ?0 ? ? ?0 ? ?0 ? ?0 u 检验法 (大子样) 原假设 H0 备择假设 H1 检验统计量及其 H0为真时的分布 拒绝域 u检验法 近似 例2 某电器元件的平均电阻一直 解 100个元件的电阻, 平均值 保持在2.64 改变加工工艺后, 测得 的平均电阻有无显著影响? 标准差 问新工艺对此元件 改变加工工艺后电器元件的电阻构 成一个母体. 在此母体上作假设 可用大子样作检验. 故选统计量: 近似 拒绝域 W : 现 故拒绝原假设, 即新工艺对元件的平 均电阻有显著影响. 实际应用中, 若拒绝了原假设, 则 需对参数作区间估计.取置信概率0.99. 则置信下限与上限分别为 从而新工艺生产的元件的平均电阻的 置信区间为 (一) 方差未知但相等 两个正态母体 两母体 (X1, X2 ,…, Xn)与(Y1, Y2 ,…, Ym) 独立, 在两母体上作假设 当H0成立时,由抽样分布的重要结论有 设母体 X ~ N(?1 ? ?2), Y ~ N(?2 ??2 ) ?1 = ?2 两均值的t检验 ?1 ? ?2 ?1 ? ?2 ?1 ?2 ?1 ?2 ?1 ? ?2 两均值t 检 原假设 H0 备择假设 H1 统计量在H0 为真时的分布 拒绝域 例3 杜鹃总是把蛋生在别的鸟巢中, 现从两种鸟巢中得到杜鹃蛋24个.其中 9 个来自一种鸟巢, 15个来自另一种鸟 巢, 测得杜鹃蛋的长度(mm) 如下: m = 15 19.8 20.0 20.3 20.8 20.9 20.9 21.0 21.0 21.0 21.2 21.5 22.0 22.0 22.1 22.3 n = 9 21.2 21.6 21.9 22.0 22.0 22.2 22.8 22.9 23.2 试判别两个子样均值的差异是仅 由随机因素造成的还是与来自不同的 鸟巢有关 ( ). 解 H0 : ?1 = ?2 ； H1 : ?1 ? ?2 取统计量 拒绝域 W ： 统计量值 拒绝H0 ，即蛋的长度与不同鸟巢有关. 重要说明 例3利用两均值差的t检验法, 而 使用此检验法的前提是两母体的方差 虽未知但相等. 这就需要先检验两母 体的方差是否相等, 而这正是我们下 一节要学的内容. 下节例4 告诉我们本例的两母体 方差是否相等的. 例4 比较两种安眠药A与B的疗效.10个 分别表示服 对每个患者各 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1.9 0.8 1.1 0.1 -0.1 4.4 5.5 1.6 4.6 3.4 0.7 -1.6 -0.2 -1.2 -0.1 3.4 3.7 0.8 0 2.0 患者 个失眠者为实验对象. 以 用A与B后延长的睡眠