原子吸收的误差..doc

5 生命科学仪器 2005 第3 卷/ 第2 期 综述 之一。同时，他选择的斜坡升温速率80℃/s也不对。因 为，升温速度太快时，有可能样品会突然冒烟，会 使待测元素受到损失。一般来说，对复杂样品的斜 坡升温速率都应在25-50℃/s，即使是简单样品，也 应低于50℃/s的斜坡升温速率。他选择斜坡升温速率 为80℃/s，当然不行。这是他的分析误差很大的原因 之二。因此，他的分析误差达到35% 以上是必然的。 又如：某某大学的一位教授，在用石墨炉法作分析工 作时，他发现石墨管经常断裂，有时做一个样品就要 断一根石墨管。于是，他就认为是石墨管的质量问题。 其实，是他的干燥温度没有选择好。因为，他作的是 有机化合物的微量元素分析，他的样品溶解在有机试 剂中，他选择原子化温度为2300℃，但他选择80℃的 干燥温度，当然不行。因为笔者的实践证明：一般来说， 干燥温度要稍高于溶剂的沸点，如：水溶液应选100- 120℃的干燥温度为好；有机溶剂则应选120-130℃才 能将水份蒸发掉。他选80℃的干燥温度，样品中的有 机溶剂蒸发不了。此时如果保护气有点问题，原子化 时2300℃的高温瞬时升上去，石墨管就有可能会断 裂。 还有：吸收线的选择也是很重要的。因为，如果 吸收线选择不恰当，当分析线附近有其它非吸收线存 在时，会使灵敏度降低、工作曲线弯曲，如Ni，在灵 敏线232.0nm附近有231.98nm、232.14nm、231.6nm三 根线，即使用很窄的光谱带宽（SBW）也难以分开； 所以，有时宁愿牺牲灵敏度，而选择吸收系数低的次 灵敏线Ni 341.48nm作为吸收线。又如：用火焰法作K 的分析时，我们一般都不用红外区的灵敏度K766.5nm 作为分析线，而用可见区的次灵敏线K404.4nm作为分 析线；这样可以降低干扰、可以提高分析结果的可靠 性。 综上所述，原子吸收分光光计的使用者们，必须 要认真选择分析条件。 3.2 认真搞清主要技术指标的物理意义及其对分析 误差的影响 笔者经常碰到一种很怪的现象：许多分析工作者 对自己所使用的原子吸收分光光度计仪器的主要技术 指标的物理意义以及这些技术指标对分析测试误差有 多大的影响都不清楚，或者说不大清楚；但他们又不 去学习、不去研究。笔者认为，这是影响我国分析测 试水平提高的最重要的原因之一，如：检出限，它的 物理概念是能产生大于或等于2σ（或3σ）的信号 的试样浓度或试样的量（σ为标准偏差）；它与仪器的 噪声N、边缘能量等多种因素有关，它直接影响分析 结果的重复性。它是一项最重要、最关键的技术指标。 它决定仪器的最大检测能力。是衡量一台原子吸收分 光光度计仪器好坏的最重要的标志之一。但我国许多 原子吸收分光光度计仪器生产厂不给出检出限这项技 术指标。而用户在AAS仪器验收时，竟也同意通过仪 器验收，同意在验收单上签字。又如：边缘能量，它 的物理概念有两层意思：一是在As、Cs两条特征线时， 仪器都能达到100%（即能调满度）；二是在As、Cs两 条特征线时，噪声N都能达到±0.03Abs（国家计量检 定规程要求）。边缘能量同样也是一项非常重要的技术 指标，它影响仪器的信噪比，直接影响仪器的检出限， 而有的使用者却认为它不重要。曾经有人与笔者争 论：他认为边缘能量不重要，他认为影响边缘能量这 个指标的因素只是光电倍增管。其实不然，边缘能量 很重要。影响这个指标的因素除光电倍增管外，还有 光源、火焰、石墨炉、光栅、光学系统的有关光学组 件、光谱带宽、电子学、计算机硬件、计算机软件等 等。笔者认为，如果一个使用者对影响边缘能量的因 素也搞不清楚，他就不可能正确选择和运用好这个技 术指标。还有：特征浓度和特征量这两项技术指标，也 是一切原子吸收分光光度计使用者必须高度重视和需 要特别注意的技术指标，它们的定义非常明确。如： 特征量，它的物理概念是指能产生1% 吸收时所对应 的样品的量。其计算公式为Qc=CxHx0.0044/A(g)；但 是，有许多使用者搞不清楚计算公式中的0.0044是怎 么回事，甚至有的原子吸收分光光度计仪器设计者也 搞不清楚这个问题。有人把它说成是一个系数，这是 一个最基本的、概念上的错误。其实，产生1%吸收， 就是透过率（T）为99%；根据比耳定律的数学表达式： A=-LOGT，所以，A=-LOGT=-LOG(99/100)=0.0044 (Abs)。因此，0.0044不是一个系数，而是表征1%吸 收所对应的吸光度值。 3.3 认真研究对技术指标的测试方法 经常对自己使用的AAS仪器作自检，以保证仪器 的技术指标处在最佳状态。因为，影响AAS技术指标 的因素很多，所以，AAS仪器的技术指标经常有可能 发生变化。为了保证技术指标的准确、可靠性，使用 者应经常自