光电信息技术实验【参考】.docxVIP

光电信息实验（二）学生姓名：代中雄专业班级：光电1001学生学号：U201013351指导老师：黄鹰陈晶田实验一阿贝原则实验实验目的熟悉阿贝原则在光学测长仪中的应用。基本原理阿贝比较原则万能工具显微镜结构及实物图所示。万能工具显微镜的标准件轴线与被测件轴线不在一条直线上，而处于平行状况。产生的阿贝误差如下：一阶误差，即阿贝误差2．结论 1）只有当导轨存在不直度误差，且标准件与被测件轴线不重合才产生阿贝误差（一阶误差）。 2）阿贝误差按垂直面、水平面分别计算。 3）在违反阿贝原则时，测量长度为的工件所引起的阿贝误差是总阿贝误差的。 4）为了避免产生阿贝误差，在测量长度时，标准件轴线应安置在被测件轴线的延长线上（阿贝原则）。 5）满足阿贝原则的系统，结构庞大。3.阿贝测长仪阿贝测长仪中，标准件轴线与被测件轴线为串联形式，无阿贝误差，为二阶误差，计算形式如下：实验内容万能工具显微镜进行测长实验1）仪器：万能工具显微镜，精度：1微米。用1元、5角、1角的硬币，分别测它们的直径，用数字式计量光栅读数及传统的目视法读数法。每个对象测8次，求算数平均值和均方根值。2）实验步骤：瞄准被测物体一端，在读数装置上读一数；瞄准被测物体另一端，在读数装置上再度一数（精度1微米）；两次读数之差即为物体长度。3）实验结果：次值结果/mm11.45311.45111.45611.45811.