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BES III漂移室离线刻度及进展 伍灵慧 内容 BES III漂移室离线刻度的内容和基本方法 BES III漂移室离线刻度程序的设计和进展 Mdc Calibration Function Service的设计 对漂移室重建和流程控制的需求 BES III漂移室离线刻度的内容和基本方法 XT关系刻度 T0刻度 丝位刻度 QT修正 空间分辨 （1）XT关系刻度 漂移室通过测量电离电子的漂移时间来获取入射粒子的位置信息 XT关系就是漂移时间(tdrift)与漂移距离(ddrift)的关系 ddrift = FXT( tdrift ) BES III漂移室的单元结构及XT关系 影响XT关系的主要因素： 电场 磁场 工作气体 目前主要考虑以下几方面差异： 不同丝层之间的差异 单元内不同入射角(Entrance Angle)方向上的差异 单元内信号丝左右的差异 XT关系所需要的刻度常数的数目： [6+2 (boundary)]*18(angle)*2(lr)*43=12384 （2）T0刻度 （5）空间分辨 BES III漂移室离线刻度程序的设计 目前已完成： 与刻度流程相关的部分 刻度常数读写部分 与T0刻度相关的类 与丝位刻度相关的类 Mdc Calibration Function Service的设计 MdcCalibFunSvc将提供以下函数