第六章X射线物相分析..docx

第六章 X射线物相分析?则说，M、γ是两个晶体结构不同的晶体，也就是两个相。任何一种结晶物质（纯金属、固溶体、化合物等）都有自己特定的晶体结构。 因此，在X射线衍射时，都要产生一定的X射线衍射谱。 反之，根据衍射谱的特点→判断物质的晶体结构的有无——定性分析。 根据衍射线的强度分布→判断各种相的相对数量——定量分析。 相的微观结构受成分、生产工艺热处理工艺的影响； 成分、生产工艺、热处理工艺 微观结构（相组成、相含量、相形态、相分布）力学性质。 所以，物相分析是分析成分、生产工艺、热处理工艺、力学性质之间的关系。 金相：根据相的形貌判断相的特征。要与标准图谱对照，不能看原子排列方式等，只有含量多的时后才能进行定量分析。所以不能准确地进行定性、定量分析。 近代电子显微术：只能进行微区的定量分析。 磁性分析：可分析奥氏体含量，即只能分析有磁性的材料。 X射线：是宏观的、大尺度的信息，与宏观的结构、力学性质靠近。 第一节 定性相分析1.1 原理∴ X射线衍射谱，就如同人的指纹一样，是每一种晶体物质的特征，是鉴别晶体物质的标志。 如果将两种或两种以上的晶体物质混合在一起，则组成混合物的各相产生的衍射花样是独立的、机械叠加。 根据衍射谱的特点确定物相的晶体结构和相的种类——就是定性分析的内容。 前面所述的方法，对立方晶系较简单，其它晶系则复杂了，且只能计算出晶体物质的晶体学参数，而物质是什么相，必须查对晶体学手册。仔细分析衍射谱各衍射峰的分布和相对强度的变化衍射谱的主要特征标志物相的晶体结构 衍射线的分布2θ确定(2θ与入射波长λ及衍射面间距有关，波长一定时，由d可确定θ，而d是晶体结构中一个重要参数)衍射线的积累强度取决于晶体的结构因子和多重性因子 所以衍射谱上衍射线的分布及强度作为标定物相的主要依据是完全可行的。 为了消除因采用不同入射线，波长对衍射线的位置（2θ）的影响，可将各衍射线的位置换算成衍射面间距（d=λ/2sinθ） 也即，用d-I数据组作为定性相分析的基本判据。 约在 1.2 卡片索引是能帮助实验者从数万张卡片中迅速查到所需要的PDF卡片的工具书。一．字母索引：以物相的英文名称、首字母为排列顺序。 二．数值索引：以8强线的d值从大到小为排列顺序。 如：字母索引： 1.3 分析方法（流程图见P135。图8-3）1.衍射花样测试：选定实验条件，注意定性相分析的基本要求。 2.选择滤波片或晶体单色器消除Kβ衍射线； 3.测量范围为2θ＞90°以上，以2θ＜90°的衍射线为主要依据； 4.利用连续扫描方法，采用中等扫描速度，如2°/分或4°/分； 5.选用中等尺寸的狭缝光阑，如0.3～1°的发散狭缝和0.05～0.15°的接收狭缝； 6.在设备条件（额定功率）允许的情况下，选用尽可能高的管电压和管电流。如2kw功率的铜靶可选35Kv，40mA，有利于显示低含量相的衍信息。 7.计算面间距d值和测定相对强度Ir： 以2θ＜90°的衍射线为主要依据。2θ角和d值分别给出0.01°t 0.001位有效数字。 Ir=Ii——扣除背底后的净峰高强度 Imax——花样中最强线的峰高强度 得出d-Ir数据组 8.检索PDF卡片：（见P135的图8-3，定性相分析流程图） 以书上P135的两个相的试样为例，说明定性相分析方法和步骤。 因PDF卡片的不断增多，用人工检索是一项繁重而又消耗时间的工作，又计算机应用的不断发展，可以用计算机自动检索。 说明：1。相分析最好用衍射仪连续扫描，与照相法比较更精确，效率高； 2．实验数据与标准数据允许有偏差，强度的变化规律相同即可； 3．X射线物相分析有局限性，灵敏度有限，即相含量要达到一定时才能显示出来，太少时被背底所掩盖； 6.2 相似的相难以辨认，要根据熔炼合金时加入了什么元素，或用电子探针、化学分析等先分析含有什么元素。 思考题：1。为什么X射线衍射实验可以对混合物的各个相进行鉴别？ 2．为什么d总是可靠的依据，而I只是参考？ 第二节 定量相分析2.1 基本原理任 务：在定性相分析的基础上测定多相物质中各相的含量。 理论依据：物质衍射线强度，随该相含量的增加而提高，但由于X射线受试样吸收的影响，试样中某相的含量与其衍射线强度通常并不正好成正比。 ∵ 衍射仪精度高、速度快，而且吸收因子A（θ）=，不随θ角的改变而变化 ∴ 普遍采用衍射仪法进行定量分析。 对单一物质（即单相）而言： （8-6） 对多相混合物：∵ 各相对X射线的吸收各不相同，每个相的含量发生变化时，都会改变总体吸收系数值。 ∴ 要由衍射强度求得各相的含量，必须处理吸收的影响。 第j相某一衍射线的强度，随j相所占体积分数的增加而增加。 假定：有n个相，测其中第j相的含量， 若该相参加衍射的体积为：Vj则第j相的衍射线强度为：Ij=CKj (