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X荧光分析南京大学实验目的1.了解能量色散X荧光分析的原理、仪器构成和基本测量、分析方法；2.运用莫塞莱定律，从实验推出屏蔽常数等；3.研究物质对X射线的吸收规律。实验原理以一定能量的光子、电子、质子、粒子或其他离子轰击样品，将物质原子中的内壳层电子击出，产生电子空位，原子处于激发态。外壳层电子向内壳层跃迁，填补内壳层电子空位，同时释放出跃迁能量，原子回到基态。跃迁能量以特征X射线形式释放，或能量转移给另一个轨道电子，使该电子发射出来，即俄歇电子发射。另外还可能存在几率较低，主量子数相同，角量子数不同，亚壳层间电子的Coster-Kronig非辐射跃迁。测出特征X射线能谱，即可确定所测样品中元素种类和含量。当原子中K层电子被击出后，L层或M层的电子填补K层电子空位，同时一定几率发射特征X射线。LK产生的X射线叫系，L层有三个子壳层，允许跃迁使系有两条谱线和。MK产生的X射线叫系，M层有五个字壳层，允许跃迁使有，，三条谱线。当原子中L层电子被击出后，ML跃迁产生的X射线叫L系。图1是特征X射线系与电子跃迁能级示意图。图1 特征X射线系-跃迁能级示意图特征射线的能量为两壳层电子结合能之差，即所有元素的系特征射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。荧光分析中激发射线的方式一般有三种：（1）用质子、粒子或其他离子激发；（2）用电子激发；（3）用射线或低能射线激发。用质子激发特征射线的分析