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数显高度计相关基础知识.
数显高度计概述SJ200系列高度计是是针对众多工业应用领域及检测机构进行设计的大量程、高精度的测量设备。本仪器采用高精度进口光栅作为测量基准，遵循阿贝原则，按照机械稳定性和热稳定性最好的原则设计而成，因此具有测量精度高、性能稳定、重复性好等特点。数显高度计功能SJ200系列高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域，对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。数显高度计结构原理本仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。SJ200系列高度计采用高精度光栅，即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准，所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感，并具有确定的稳定特性。增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距，从而确保一个信号周期内微小位置误差。数显高度计技术参数型 号SJ207测量范围（0~50）mm配 置50mm测头+ SJ102+陶瓷台架测量基准进口高精度增量式光栅精度(20℃)1μm重 复 性优于0.2μm分 辨 力0.1μm、0.5μm、1μm可切换测量速度小于7.2m/s测 量 力（1~1.4）N驱动系统被测物驱动，弹簧复位测量测头硬质合金球形测头（可选配平面测头、针形测头、偏心测头等）显 示8位LED单位切换mm/inch输入电压DC 12V，配专用适配器功 能自动归零/数据校准工作温度（0~40）℃，标准温度20℃型 号SJ217测量范围（0~50）mm配 置50mm测头+SJ101+陶瓷台架+软件测量基准进口高精度增量式光栅精度(20℃)0.4μm重 复 性优于0.1μm分 辨 力0.01μm测 量 力垂直方向：1.25N-1.75N； 水平方向：0.75N-1.15N测量速度小于7.2m/s驱动系统被测物驱动，弹簧复位测 头硬质合金球形测头（可选配平面测头、针形测头、偏心测头等）外部输出RS-232显 示4.3寸触摸屏单位切换mm/inch输入电压AC100V～240V 50Hz～60Hz功 能数据存储/数据校准/自动归零/预设值，配专用指示表检定仪检定软件工作温度（20±1）℃型 号SJ228测量范围（0~100）mm配 置100mm测头+ SJ101+陶瓷台架+按键盒+软件测量基准进口高精度增量式光栅示值误差（0.2+L/1000）μm重 复 性优于0.1μm分 辨 力0.01μm测量速度探测速度1~5mm/s可调测 量 力1.5N驱动系统电机驱动测量测头硬质合金球形测头（可选配平面测头、针形测头、偏心测头等）显 示4.3寸触摸屏或PC单位切换mm/inch输入电压AC100V～240V 50Hz～60Hz功 能具有强大的测量及数据管理功能工作温度（20±0.5）℃
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