基本逻辑门逻辑功能测试及应用..docVIP

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  • 2017-01-12 发布于重庆
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基本逻辑门逻辑功能测试及应用.

实验一 基本逻辑门逻辑功能测试及应用一、实验目的 1、掌握基本逻辑门的功能及验证方法。 2、学习TTL基本门电路的实际应用。 、掌握逻辑门多余输入端的处理方法。 二、实验原理 数字电路中,最基本的逻辑门可归结为与门、或门和非门。实际应用时,它们可以独立使用,但用的更多的是经过逻辑组合组成的复合门电路。目前广泛使用的门电路有TTL门电路。TTL门电路是数字集成电路中应用最广泛的,由于其输入端和输出端的结构形式都采用了半导体三极管,所以一般称它为晶体管-晶体管逻辑电路,或称为TTL电路。这种电路的电源电压为+5V,高电平典型值为3.6V(≥2.4V合格);低电平典型值为0.3V(≤0.45合格)。常见的复合门有与非门、或非门、与或非门和异或门。 有时门电路的输入端多余无用,因为对TTL电路来说,悬空相当于“1”,所以对不同的逻辑门,其多余输入端处理方法不同。 TTL与门、与非门的多余输入端的处理 如图.1为四输入端与非门,若只需用两个输入端A和B,那么另两个多余输入端的处理方法是: 并联 悬空 通过电阻接高电平 图.1 TTL与门、与非门多余输入端的处理 并联、悬空或通过电阻接高电平使用,这是TTL型与门、与非门的特定要求,但要在使用中考虑到,并联使用时,增加了门的输入电容,对前级增加

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