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实验七 集成触发器的逻辑功能测试及应用 一实验目的 1．熟悉JK触发器的基本原理及逻辑功能。 2．熟悉D触发器的基本原理及逻辑功能，并掌握其寄存器移位功能。 3．触发器应用。 二、实验仪器及器件 仪器：逻辑箱，示波器，数字万用表 器材： 74LS74、74LS76、74LS00 三、实验基本原理： JK触发器有J输入端和K输入端，而其RD端和SD端则具有置“0”置“1”功能，逻辑功能如下： 当J=K=1时，CP脉冲作用下，触发器状态翻转，写成n+1= 当J=K=0时，CP脉冲作用下，触发器保持原状态，写成On+1=n。 当J=1，K=0时，在CP脉冲作用下，触发器置“1”，写成n+1=1。 当J=0，K=1时，在CP脉冲作用下，触发器置“0”，写成n+1=0。 四、触发器的逻辑功能测试： 1．JK触发器（选择74LS76） （1）触发器置“0”“1”的功能测试： 表7—1 JK触发器SD、RD功能表 SD RD 有CP 无CP 1 0 0 1 0 0 将SD、RD分别接开关Ki+1、Ki，、 分别接发光二极管Li+1，Li，按表7—1要求改变SD，RD（J，K，CP处于任意状态），并在SDRD作用期间，任意改变J、K、CP的状态，观察和的状态，将结果记录于 表7—1。 （2）J、K触发器逻辑功能的测试： 将J、K分别接开关，而上述实验中的SD、RD所接开关保持，并置于SD=1，RD=1的状态，时钟CP接单脉冲信号源的输出P+，按表7—2要求，将结果记录于表7—2。 （3）将JK触发器J=K=“1”，构成计数电路，用双踪示波器观察CP、的波形 图7—1 表7—2 JK触发器逻辑功能 CP J K n n+1 ↓ 0 0 0 ↓ 0 0 1 ↓ 0 1 0 ↓ 0 1 1 ↓ 1 0 0 ↓ 1 0 1 ↓ 1 1 0 ↓ 1 1 1 2．D触发器：（选择74LS74） 触发器置“0”置“1”功能的测试： 将SD、RD分别接开关，、分别接发光二极管，按表7—3要求改变SD、RD（D及CP处于任意状态）并在SD、RD作用期间，任意改变D与CP的状态，测试SD、RD的功能，并将测试结果记录于表7—3。 对D触发器逻辑功能的测试，结果记录于表7—4。 将D触发器的D与相接，构成计数电路，用双踪示波观察其CP、的波形。 图7—2 表7—3 D触发器SD、RD功能表 表7—4 D触发器逻辑功能表 SD RD 1 0 0 1 0 0 CP D n n+1 　　 ↑ 0 0 ↑ 0 1 ↑ 1 0 ↑ 1 1 五、触发器应用： 用JK触发器（74LS76）组成异步二进制计数器如图7—3。 图7—3 用JK主从触发器组成的异步二进制递增计数器 2．用二个D触发器组成移位寄存器如图7—4 图7—4 移位寄存器 3．R—S触发器的功能测试与应用：如图7—5 （1）选择74LS00芯片，接成基本R—S触发器形式，测试其功能。 （2）将输入R、S端接入Ki，输出接上一个计数显示电路，，拨动开关，观察计数情况；将开关Ki直接接上计数显示电路，拨动开关观察计数情况。 六、思考题： 1．RS触发器是如何起抗抖动作用的？ 24 Q CP CP Q J C K J C K J C K J C K 0 1 2 3 进位输出 FF3 FF