现代测量与误差分析作业_四通道数据采集电路及四路输出驱动控制电路.docVIP

现代测量与误差分析作业 摘要：本实验由滤波电路、A／D转换器和CPU组成的数据四通道数据采集电路，由CPU、D/A转换器、采样保持器和平滑滤波电路组成四路输出驱动控制电路。 一、数据采集电路 已知： 1、扭转传感器的量程：－120度~120度; 2、传感器灵敏度：80mv/度; 3、传感器分辨率：0.01度; 4、传感器信号输出频率：100Hz; 5、测试系统工作量程： －20度~20度; 6、测试过程中具有高频扰动； 7、测试系统工作温度范围：－40℃～60 ℃。 要求： 1、设计四通道数据采集电路； 2、各通道采样周期4ms; 3、详细说明采集电路的设计依据； 4、CPU可不指定型号，采集电路与CPU的接口由示意图形式表示； 5、给出采集电路所有用到的元器件的具体型号、参数，主要考虑的指标； 6、提供主要元器件的说明书。 主要原器件选择 一、AD转换元件的选择 参数中给定：测试系统工作量程： －20度~20度，传感器的灵敏度是80mv/度，传感器分辨率：0.01度。 推算出传感器的输出最大电压和最低电压差：40*80=3200mv，即3.2v。且由于模拟开关MUX、采样保持器S／H、A／D转换器组成的数据采集电路的总误差是这三个组成部分的分项误差的综合值，则选择元件精度的一般规则是：每个元件的精度指标应优于系统精度的十倍左右。则系统的AD转换的精度应为3200/（80*0.01*0.1）=40000。即AD转换的元件的位数应为16为，即2^16=65536。 传感器信号输出频率100Hz，则AD转换元件的转换速率应100Hz。测试系统工作温度范围：－40℃～60 ℃。系统要求为四通道数据采集电路，各通道采样周期2ms。 通过这些条件，选择AD转换芯片为ADS7825。ADS7825为4通道，16位的AD转换芯片，可选的并行或串行数据传输，工作温度为–40°C to +85°C，+-10V的模拟电压输入，内部带保持电路。 二、低通滤波电路 参数中声明：测试过程中具有高频扰动，所以在AD转换芯片前需要加一个低通滤波器。因为各通道采样周期4ms，则采样频率f1/0.004=250Hz。则根据奈奎斯特频率（在进行模拟/数字信号的转换过程中，当fs.max大于信号中最高频率fmax的2倍时(fs.max=2fmax)，采样之后的数字信号完整地保留了原始信号中的信息，一般实际应用中保证采样频率为信号最高频率的5～10倍；采样定理又称奈奎斯特定理。πRC,保证采样时被采样频谱只包含低于fs/2的频率分量，满足奈奎斯特采样定理。 图1 四通道数据采集电路的低通滤波电路 三、CPU的选取 因为A/D转换器的转换速率（tC转换时间、t0休止时间，N为A/D转换器通道数），应大于传感器采样频率，在考虑到成本的情况下，选择AT98C51单片机。 AT89C51是ATMEL公司生产的兼容MCS-51结构系统的FLASH型单片机，硬件和指令完全兼容C51系列单片机。我们回顾一下MCS-51的串行通信口结构，MCS-51单片机的串行口有4种通信方式，即方式0、1、2、3，为了与AD7701串行通信相适应，我们选择工作方式0AT89C51的串行通信口在方式0下作为同步移位寄存器使用，RXD（P3.0）为移位数据的输入输出口，而由TXD（P3.1）端作为移位时钟脉冲控制端，移位数据的发送和接收以8位为一帧，低位在前，高位在后。 二、模拟输出控制电路 已知： 1、电机所需驱动电压：－10V~10V; 2、电机所需驱动电流：20mA; 3、测试系统工作温度范围：－40℃～60 ℃； 4、模拟输入通道同前一题。 要求： 1、设计四通道模拟输出控制电路； 2、各通道周期4ms; 3、详细说明采集电路的设计依据； 4、CPU可不指定型号，采集电路与CPU的接口由示意图形式表示； 5、给出采集电路所有用到的元器件的具体型号、参数，主要考虑的指标； 6、提供主要元器件的说明书。 主要原器件选择 一、D/A转换器 在系统参数中因未给定系统要求精度，故取DAC位数等于系统输出数字的位数，又测试系统工作温度范围：－40℃～60 ℃。系统要求为四通道模拟输出控制电路，各通道采样周期4ms。所以选择DAC7724。 DAC7724具有4个输出通道，每个通道可独立控制，且均可直接输出电压信号，这一特点与电流输出模式的数模转换器相比具有很大的优势，因为若输出为电流模式，则需要另外设计专门的电路来将输出的小电流转换成所需的电压信号，这样不但会浪费系统的硬件资源，同时也给软件设计增加了麻烦，