数电实验讲义(修改)东华理工大学..docVIP

基本原理实验 实验一　门电路逻辑功能测试及应用 实验目的 1.熟悉数字电路学习机和双踪示波器的使用方法； 2.熟悉门电路的逻辑功能； 3.掌握TTL门电路、CMOS门电路功能及外特性的测试方法； 4.掌握基本集成逻辑芯片的正确使用与应用。 实验器材 1.数字电路学习机 1台 2.双踪示波器 1台 3.万用表 1台 4.集成芯片 74LS00 四2输入TTL与非门 1片 74LS02 四2输入TTL或非门 1片 TC4011 四2输入COMS与非门 1片 5.0～10KΩ电位器 1只 6.导线若干 预习要求 1.了解数字电路学习机和双踪示波器的使用方法（见附录）； 2.熟悉所用集成芯片的引线位置及各引线用途； 3.复习门电路工作原理及相应逻辑表达式； 4.复习门电路主要特性及参数的意义。 实验内容及步骤 实验前按学习机使用说明书先检查学习机电源是否正常，然后选择实验用的集成芯片，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意VCC及地线不能接错。线接好后经实验指导老师检查无误方可通电实验。实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。 1.测试门电路的逻辑功能 分别将集成芯片74LS00、TC4011、74LS02插入面包板，接好VCC和地线，输入端接S1~S8（电平开关输出插口）任意两个，输出端接电平显示发光二极管（D1~D8）任意一个，列出各自的真值表，写出逻辑表达式。（集成芯片引脚图见图1-9、图1-10、图1-11） 2.TTL门电路（74LS00）主要参数的测试 （1）输出高电平VOH与输出低电平VOL的测定。 VOH—是指输入端有一个或一个以上为低电平时的输出高电平值，其测试图如图1-1所示。 VOL—是指输入端全部接高电平时的输出低电平值，其测试图如图1-2所示。 （2）输入短路电流IIS的测定。 IIS—是指输入端有一个接地，其余输入端接高电平（或TTL门输入端的开路）时，流入接地输入端的电流。有时也把VI=0时的输入电流叫输入短路电流IIS。 分别按图1-3（a）、（b）所示测量IIS，分析两种情况下测定的IIS值，你认为结果是否合理，为什么？ （3）高电平输入电流IIH的测定。 IIH—是指输入端有一个接高电平，其余输入端接低电平（接地）时，流入该输入端的电流。 图1-1　VOH的测试电路 图1-2　VOL的测试电路  （a） （b） 图1-3　IIS的测量电路 分别按图1-4（a）、（b）所示测量IIH，分析两种情况下测定的IIH值是否合理，为什么？ （a） （b） 图1-4　IIH的测量电路 3.电压传输特性的测量 （1）TTL与非门的电压传输特性的测试。 TTL与非门的电压传输特性测试电路图如图1-5所示，改变电位器W的中心抽头的位置，使输入电压VI按表1-1变化，用万用表测出每个VI对应的VO的大小，填入表1-1中，并在坐标纸上画出电压传输特性曲线。 图1-5　电压传输特性测试电路 表1-1　TTL与非门的电压传输特性的测试 VI（V） 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 0.9 1.0 1.1 1.2 1.3 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 VO（V） （2）CMOS门电路的电压传输特性的测试。 将集成芯片按图1-5接线，输入电压VI按表1-2的大小变化，测出对应的VO值的大小，填入表1-2中，并用坐标纸画出电压传输特性曲线。 表1-2　CMOS与非门的电压传输特性的测试 VI（V） 0.0 0.5 1.0 1.4 1.7 2.0 2.3 2.4 2.5 2.6 2.7 2.8 3.0 4.0 5.0 VO（V） 4.CMOS门电路平均传输时间的测量 用一片TC4011按图1-6接线，输入电压VI接学习机上的连续脉冲，选择合适的连续脉冲的频率，用双踪示波器观察并记录输入、输出相位差（记录VI-VO波形），计算每个门的平均传输延迟时间的值。 图1-6　CMOS门电路平均传输时间测量电路 5.利用逻辑门控制输出 （1）利用与非门控制输出。 用一片74LS00按图1-7接线，在X输入端输入连续脉冲，在S输入端分别加低电平“0”和高电平“1”时，用示波器分别观察输出端Y的波形，将结果填入表1-3中，讨论S对输出脉冲的控制作用。