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湿法制程 常见异常 制绒 异常类型: 去重异常、反射率异常、叠片、流片、油污片、指印片、多孔硅残留、扩散后白斑等等 可能的影响: 硅片返工或报废; 电池片外观异常或效率偏低。 常见异常 刻蚀 异常类型: 减薄量异常、叠片、流片、油污片、指印片、多孔硅残留、水印、白点、过刻、漏刻、阴阳片等等 可能的影响: 硅片返工或报废; 电池片外观异常或效率偏低、Trash偏高。 值班工程师工作内容 晋能清洁能源科技有限公司 * 晋能清洁能源科技有限公司 * 谢谢观看! THANKS! 晋能清洁能源科技有限公司 晋能清洁能源科技有限公司 * 晋能清洁能源科技有限公司 * * 晋能清洁能源科技有限公司 * * THANKS! 谢谢观看! * 湿法工艺培训 目录 晶体硅电池生产工艺 表面制绒 反射率 边缘及背面刻蚀 影响刻蚀线的因素 药液的激活 湿法制程 常见异常 值班工程师工作内容 晶体硅电池生产工艺 去除边缘PN结 背面抛光 去除正面PSG 去除损伤层 降低反射率 原始硅片 多晶制绒 单晶制绒 制绒 刻蚀 表面制绒 硅片 机械损伤层(10微米) 损伤层的形成→ ←损伤层的去除 损伤层的去除 表面制绒 左图中蓝色线为抛光后的Si的反射图,经过不同织构化处理之后的反射图。 右图为在织构后再沉积SiNx:H薄膜的反射光谱图。 很好的织构化可以加强减反射膜的效果 降低反射率 表面制绒 制绒方式: 单晶(拉晶晶向100)碱制绒-各向异性 多晶(无固定晶向)酸制绒-各向同性 其他:RIE、黑硅等等 4%~5% 20%~21% 表面制绒 碱制绒: 原理: 利用低浓度碱溶液的各向异性腐蚀方式(对晶体硅各个晶面腐蚀速率的不同,(111)最慢),在硅片表面腐蚀形成角锥体密布的表面形貌; 角锥体四面全是由〈111〉面包围形成; 反应过程:Si+OH-+H2O→SiO32-+H2 表面制绒 多晶制绒---JJC机台简介: 以下为JJC设备多晶制绒工艺流程及各槽主要参数范围: 原则:一化一水 表面制绒 各槽介绍及制绒原理: A.Process Bath: 化学品:HF~~HNO3~~DI; 作用:利用各向同性的腐蚀方式进行表面织构化 机理: HNO3 + SI = SIO2 + NO2 + NO + H2O NO2 + H2O = HNO2 + NO HNO2 + SI = SIO2 + NO +H2O HNO3 + NO + H2O = HNO2 HF + SIO2 = SIF4 + H2O SIF4 + HF = H2SIF6 表面制绒 B.Rinse1\Rinse2\Rinse3: C.Alkaline Bath(喷淋式浸没式): 化学品:主要为DI water; 作用:清洗出制绒槽硅片表面的残余化学品及残留杂质; 作用机理:水压喷淋,物理清洗 化学品:KOH 作用:中和制绒后表面残留的残酸,清洗多孔硅; 作用机理: HF + KOH = KF + H2O HNO3 + KOH = KNO3 + H2O SI + KOH = K2SIO3 + H2O 表面制绒 D.Acid Bath: 化学品:HF,HCL 作用: HCL中和残留硅片表面残留的碱液;去除硅片在切割过程中引入的金属杂质; HF去除在前面过程中形成的SIO2层,以便于脱水; 作用机理: 酸碱中和反应 金属氯化物易溶于水 疏水性 SISIO2 E.Dryer 作用: 热风烘干 HF + SIO2 = H2SIF6 表面制绒 影响反应的因素(主要为制绒槽): 药液浓度高 药液温度高 滚轮速度慢 药液浓度低 药液温度低 滚轮速度快 各因素共同作用 去重高 去重低 表面制绒 对反射率的影响(主要为制绒槽): HF比例低 HF比例高 各因素共同作用 反射率高 反射率低 去重高 去重低 可能出现黑绒 反射率 反射: 反射机理-陷光原理 多次反射 光照射到硅片斜面时,反射到另一斜面,反复反射; 每次反射均产生一束反射光和一束折射光,如I0照射在A面时生成反射光I1和折射光I2,I1照在B面时生成反射光I3和折射光I4; 每一次反射都增加一次吸收。 边缘及背面刻蚀 A.Niak机台简介: 以下为Niak刻蚀机台工艺流程及主要工艺参数控制范围; 原则:一化一水 边缘及背面刻蚀 各槽介绍及刻蚀原理: A.Process Bath: 化学品:HF~~HNO3~~DI; 作用:背面及边缘刻蚀,背面抛光 机理:与制绒类似的反应机理,水上漂 HNO3 + SI = SIO2 +
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