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2014 年 春 季学期研究生课程考核 （读书报告、研究报告） 考核科目 :先进材料物性分析 学生所在院（系） :理学院物理系 学生所在学科 :光学 学 生 姓 名 :王磊 学 号 :13S011062 学 生 类 别 : 考核结果 阅卷人 先进材料物性分析结业报告 关于晶体材料的电光以及电致伸缩性能分析方法晶体的电光效应是指晶体在外电场的作用下，晶体的折射率发生变化的现象。利用晶体的电光效应已经应用在很多光电子学器件中，如电光调制器、电光开关、调Q开关以及光束偏转器等等领域。 目前，已经应用的电光晶体主要有LiNbO3（铌酸锂）、KDP（磷酸二氢钾）、RTP（磷酸铷氧钾）等晶体，它们都是线性电光晶体，其电光系数较小，半波电压较高，限制了其更广泛的应用。近来，KTN（钽铌酸钾）、KLTN（钽铌酸钾锂）、KNTN（钽铌酸钾钠）晶体由于其二次电光系数较大，半波电压比线性电光晶体要低一个数量级，具有很大的应用潜力，所以近来受到人们的广泛研究。由于二次电光系数在居里温度附近较大，所以研究居里温度在室温附近的二次电光晶体对其应用研究更具意义。 本首先介绍了顺电相KNTN晶体的二次电光效应，然后利用折射率椭球描述了描述了晶体的电光效应，讨论了不同外加电场下晶体的折射率变化与电光系数不同矩阵元之间的关系，最后利用Mach-Zehnder动态干涉法测量了晶体的电光系数，并研究了温度对二次电光系数的影响。 目前，测量电光系数的方法主要有单光束椭圆偏振法和双光束干涉法，由于 第 1 页 （共 页）加在晶体上的电场不同，它们各自又都可以分为静态法（加直流电场）和动态法（加交流电场）。 单光束椭圆偏振法，典型的测量系统是Senarmont系统（PSCA），主要是通过测量通过晶体后光波的偏振态的变化来计算相位变化的，从而推出电光系数的大小及符号，此方法装置简单，无论是动态法还是静态法精度都非常高，所以这种方法广泛应用于电光系数测量中。但是这种方法通常仅限于测量有效电光系数，一般都是电光系数矩阵中几个矩阵元之间的关系，能测量的单个矩阵元很少，所以要想得到电光系数矩阵中所有的单个矩阵元，还得结合双光束干涉法。 双光束干涉法，典型的测量系统是Mach-Zehnder干涉系统（M-Z），主要是通过参考臂和信号臂的相位差来判断晶体的相位变化，从而推出晶体的电光系数，这种方法可以很方便的测量出电光系数张量的各个张量元及它们的符号。双光束干涉静态法测量装置简单，但是受到外界条件的影响（例如外界微小振动或是空气的微小扰动）较大，导致实验的误差比较大，测量精度相对较低。双光束干涉动态法，受外界影响很小，精度非常高，非常适合于测量单晶电光系数。 根据测量原理中的分析，我们搭建了如图3-2所示的Mach-Zehnder干涉动态法电光系数测量系统。光源是波长为633nm的 He-Ne激光器，激光经过分束镜BS1后分成参考光和信号光，在信号臂光束经焦距为30cm的透镜L1聚焦后通过晶体样品，然后再经过焦距为30cm的透镜L2还原成平行光束。最终信号光和参考光在分光镜BS2处发生干涉，干涉条纹经过透镜L3扩束后到达光电探测器，光强信号经过光电探测器转化为电压信号由锁相放大器探测到。锁相放大器输出频率为f =17.7Hz的交流电压经过高压放大器放大后加在晶体的两侧，锁相放大器探测变化光强信号的频率应设置为2f。 图1 Mach-Zehnder干涉动态法电光系数测量系统 Figure 1 The system of the dynamic Mach-Zehnder interferometer for the electro-optic coefficients measurement 第 2 页 （共 页） 实验过程中为了减小误差，我们还采取了以下几点措施：当较强的激光通过晶体时，由于光折变效应会使入射光束发生散射，导致光束光强分布不均匀，影响干涉条纹的分布，所以实验中采用弱光以减小光折变效应带来的影响；通常为了提高干涉条纹的调制度，实验中使参考光和信号光的光强相等；