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仪器分析习题课（光学分析部分） 第五章 发射光谱分析作业 1．摄谱仪由哪几部分组成?各组成部分的主要作用是什么? 答:摄谱仪的组成及作用如下: 照明系统:使光源产生的辐射均匀的照明于狭缝,并使感光板的谱线均匀; 准光系统:将光源照射于狭缝的光平衡,均匀的照射于棱镜或光栅之上; 分光系统:棱镜或光栅,作用是把光源发射的复合电磁辐射分解为按波长排列的光谱; 投影系统:将色散后的单色光聚焦于感光板,而形成光谱 2．简述ICP的形成原理及其特点。 答: ICP是感耦高频等离子焰炬的英文简写，是一种等离子体光源。 ICP的形成原理： 由高频发生器提供高频交变电流(5～30MHZ, 2-4kW)给高频感应线圈 (2-5匝空心铜管，空心水冷) ，在炬管的内外形成强烈的振荡磁场。炬管内磁力线沿轴线方向，炬管外磁力线成椭圆闭合回路。工作气体Ar持续由石英炬管内通过，一旦炬管内气体开始电离（如用点火器），电子和离子则在高频磁场的作用下高速运动，与其它气体分子持续碰撞，使之迅速大量电离，形成“雪崩”式放电，电离的气体在垂直于磁场的截面上形成闭合环状的涡流。这个高频感应电流，产生大量的热能，瞬间可将气体加热到10000K高温，并在石英炬管的上部形成火炬状等离子体焰炬（外观与火焰相似）。由于趋肤效应的影响，离子体焰炬为环状结构，样品在雾化器内被雾化为雾滴，被载气Ar携带由内管进入高温等离子体内部的环状样品通道，完成样品的蒸发、原子化、激发。 ICP光源的特点： 工作温度高，检测限低，灵敏度高； 光源稳定、自吸及自蚀效应小、线性范围宽； 基体效应小； 无电极污染； 电离干扰小；化学干扰小； 不足：对非金属测定的灵敏度低；仪器昂贵；维持费高。 3．何谓元素的共振线、灵敏线、最后线、分析线?它们之间有何联系？ 答: 共振线:由激发态直接跃迁到基态而发射出的谱线; 灵敏线:指各元素谱线中最易激发或激发电位数低的谱线; 最后线:随着元素含量的降低，谱线数量逐渐减少,最后消失的谱线称最后线; 分析线:光谱分析中所选择的灵敏线称分析线。 关系:分析线应为灵敏线,一般选最后线。 灵敏线一定是共振线，最后线一定是灵敏线，一般应为第一共振线，也是最灵敏线. 4．何谓自吸收，它对光谱分析一什么影响？ 答:　自吸收：原子在高温时被激发，发射某一波长的谱线，而处于低温状态的同类原子又能吸收这一波长的辐射，这种现象称为自吸现象。 自蚀: 在自吸严重时，谱线中心强度几乎完全被吸收，这种现象称为自蚀。 在发射光谱分析中，当使用电弧或火花光源时，光源中心温度高，原子在光源中心激发，产生原子的发射光谱，谱线向四周空间发射，由于光源外围较中心温度低，故外围原子多数处于基态或低能态，因而产生自吸收。自吸效应将使谱线的中心强度减弱，严重自吸时，发生自蚀，谱线中心强度几乎完全被吸收，形成双线。 光谱定性分析中，发生自吸使谱线的中心强度减弱，自蚀时谱线中心强度几乎完全被吸收，还可能形成双线，从而影响定性分析的准确性。 光谱定量分析中，自吸现象将严重影响谱线的强度，谱线强度与元素浓度的关系将偏离罗马金公式，从而限制分析的含量范围。 第六章：原子吸收分光光度分析 1.简述原子吸收分光光度分析的基本原理，并从原理上比较发射光谱法和原子吸收分光光度法的区别？ 答：原子吸收分光光度分析中，被测试样在原子化中经雾化、蒸发、干燥、离解、原子化过程后，被测元素被转化为基态原子，由锐线光源辐射的锐线为被测元素所吸收而减弱，透过光线经单色器分光后而为检测器所接收，被测元素的吸光度与试样中的浓度成正比，此既为原子吸收分光光度分析的基本原理。 发射光谱与原子吸收光谱分析的比较： 共同点：两者都是基于原子光谱现象进行分析的方法，都只能对元素（主要为金属元素）进行分析，两者都需破坏试样的结构，使试样转化为原子进行分析。 不同点：发射光谱是基于原子发射光谱现象进行分析的方法，而原子吸收是基于原子吸收现象进行分析的方法，发射光谱测定的是激发态原子的总数，而原子吸收光谱测定的是基态原子的总数。因此，一般发射光谱分析的原子化条件要比原子吸收分析温度高些，原子吸收光谱要比发射光谱的谱线简单，干扰也较少，且较易克服。 优点：分析速度快，灵敏度高，选择性好，检测限低，AAS较AES受原子化温度影响小，设备也较便宜，AES适合于多元素同时分析。 2．何谓锐线光源，AAS为何使用锐线光源？ 答：锐线光源是指能辐射出半宽度很窄的发射线的光源。 原子吸收光谱由于受谱线变宽的影响，谱线具有一定的轮廓，而试样中被测元素的基态原子总数是与积分吸收成正比的，但是由于原子吸收谱线的半宽度太小，其积分吸收是不能直接测定的。但若使用锐线光源，由于其发射线宽度远小于吸收线宽度，而两者的中心频率是重合的，而峰值吸收与积分吸收成正比，因此，可利用测量峰值吸收