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第24章 波動光學 Chapter 24 波動光學 本章大綱 本章大綱 波動光學 下列各種現象需要利用光的波動性來加以解釋 干涉 繞射 偏極 光的粒子性質為線(幾何)光學的基礎 干涉 光波相互間的干涉與機械波間的干涉甚為相似 當電磁場是由個別的波所合成時，就會有干涉伴隨著光波出現 要維持二光源間的干涉現象，下列二條件必須要滿足： 二光源間需為同調 他們相互必須維持一固定的相位關係 二波源必須要有相同的波長 同調光源的形成 單色光源所發出的光，先讓它通過一極窄的狹縫 通過單狹縫的光，接著照在含有二個狹縫的屏上 第一道狹縫在產生同調光的過程中必須要使用，以確保光是來自於光源中極微小的同調區域 這是產生同調光源的舊式方法 近代一般都用雷射光當做同調光雷射能夠產生極強的同調單色光束，它的截面積可達數毫米大小 雷射光可用來直接對雙狹縫照射，來產生干涉圖形 楊氏雙狹縫干涉實驗 湯瑪士?楊於1801年首度利用二個光源描述光波的干涉現象 光首先照射在一單狹縫 So上 由此狹縫穿出的光，接著照射在含有二靠得極近相互平行的雙狹縫 S1與 S2的屏上 楊氏雙狹縫干涉實驗，相關圖形 二個極窄且平行的狹縫S1與S2扮演著二個光源的角色 自這二個狹縫射出的光波，由於它們是從同一個波前上二個產生子波的點波源所發出，因此它們永遠保持相同的相位 干涉圖的形成 自雙狹縫發出的光在遠方的屏上形成可見的干涉圖形 干涉圖形包含稱之為干涉條紋的一系列相互平行的亮暗帶 在亮紋出現處，二波形成建設性的干涉 在暗紋出現處，二波產生破壞性的干涉 干涉條紋圖 由楊氏雙狹縫干涉實驗所形成的干涉條紋，就如同右圖的樣子 圖中亮的區域代表建設性干涉 暗的區域代表破壞性干涉 干涉圖 在屏的正中央出現的亮紋是來自於建設性干涉的結果 由雙狹縫發出的波，它們抵達P點時所走的路程都相同 因此，這二個波在P點為同相位 干涉圖, 2 上方的波抵達Q點時較下方的波走的距離長 如果S1到Q點的距離較S2到Q點多了一個波長 因此，這二波抵達Q點時也是同相位 Q點為建設性干涉，故形成亮紋 干涉圖, 3 上方的波在抵達屏上R點時較下方的波多走了二分之ㄧ波長 下方光源的波谷與上方光源的波峯在R處相會 於是造成了破壞性干涉 在 R處呈現出現暗紋來 干涉條件的公式 路程差, δ, 可以由三角形的正弦函數獲得 δ = r2 – r1 = d sin θ 上式是在二光源是相互平行抵達屏上的假設前提下所導出 雖然二光源並非百分之百的相互平行，但是在Ld的前題下，可以視為平行的 干涉條件的公式, 2 對建設性干涉所產生的亮紋而言，二波的路程差需為零或是波長的整數倍 m = 0, ±1, ±2, … m 稱為級數 當 m = 0時, 所對應的是第0級極大 當 m = ±1時, 所對應的是位於0級極大兩側的第一極大 干涉條件的公式, 3 干涉紋的位置可以從0級極大，沿垂直雙狹縫中垂線的方向來量度 y = L tan θ ? L sin θ 干涉條件中的二項假設 Ld dλ 近似條件 由於θ角甚小，因此 tan θ ? sin θ 的關係可加以運用 干涉條件的公式, 4 當發生破壞性干涉時，就會看到暗紋 這一現象，需要二光源的路程差為半波長的奇數倍條件 δ = d sin θ暗紋 = (m + ?) λ m = 0, ±1, ±2, … 干涉條件的公式, 結尾 對亮紋而言 對暗紋而言 楊氏雙狹縫實驗的應用 楊氏雙狹縫干涉實驗提供了一種量測光波波長的方法 這一實驗為光的波動模型提供了極大的可信度 干涉實驗中二光會相互抵消的事實，在光的例子模型中是無法想像的 例題 24.1 例題 24.1 羅意鏡 這是一種利用單一光源來產生干涉圖形的裝置 抵達P點的光波，其一直接由光源發出，另一則經面鏡反射後到達 反射光線可看成是由鏡後實光源的像S’(虛光源)所發出 羅意鏡的干涉圖形 在屏上會出現干涉圖形 但是屏上的亮紋與暗紋位置恰好是和二個實光源所形成干涉的圖形相反 這是由於被面鏡反射後的光(虛光源)，與實光元間的相位差了 180° 因反射而造成的相位變化 電磁波由折射率小的介質進入折射率較大的介質，在界面處的反射波其相位與入射波差了180。 可以拿繩中麥波被固定端反射後的結果來對照 因反射而造成的相位變化, 續 當波自折射率大的介質進入折射率小的介質，在界面處的反射波與原來的入射波間沒有相位差 這種情形可以和繩中的脈波經自由端反射後的結果來對照 薄膜干涉 干涉的現象常見於薄膜上 肥皂泡與水面浮游所呈現的色彩即為典型的例子 干涉現象的產生是來自於薄膜上下表面處被反射的波相互作用的結果 要牢記二個情形 電磁波自折射率為n1的介質朝折射率為n2的介質行進，當n2n1時，在二介質界面處的反射波，其相位與入射波差180。 當n2n1