統计过程控制管理程序.docVIP

1、目的 通过SPC，识别过程变差的原因，针对原因采取措施，消除原因，减少过程变差。 2、范围 适用于公司SPC。 3、术语 引用SPC手册中附录G的术语及符号。 4、职责 技术质量部负责SPC，其他部门配合。 5、工作程序 5．1本公司统计过程控制采用的方法： 计数型数据：采用P控制图，计算过程能力（即PPM值）。 计量型数据；采用X—R控制图，计算Ppk和Cpk。 5．1．1X—R控制图的绘制和使用 A、收集数据 数据是以样本容量恒定的小子组的形式报出的，这种子组通常包括2-5件连续的产品，并周期性的抽取子组（例如：每15分钟抽样一次，每班抽取两次等）。应制定一个收集数据的计划并将它作为收集、记录及将数据画到控制图上的依据。 A．1选择子组大小、频率和数据 子组大小：一般由4-5件连续生产的产品的组合，仅代表单一刀具、冲模板等生产出的产品。 子组频率：应当在适当的时间收集足够的子组，一般对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班两次、每小时一次或其他可行的频率。 子组数的大小：一般情况下，包含100或更多单值读数的25或更多个子组数可以很好的用来检验稳定性。 A．2建立控制图及记录原始数据 X—R图通常是将X图画在R图之上方，下面在接一个数据栏。X和R的值为纵坐标，按时间先后的子组为横坐标。数据值以及极差和均值点应纵向对齐。数据栏应包括每个读数的空间。同时还应包括记录读数的和、均值（X）、极差（R）以及日期或其他识别子组的代码的空间。填入每个子组的单个读数及识别代码。 A．3计算每个子组的均值（X）和极差（R） 画在控制图上的特性量是每个子组的样本均值（X）和样本极差（R），合在一起后它们分别反映整个过程的均值及其极差。 对于每个子组，计算： X1+X2+…+Xn X= n R=X最大值—X最小值 式中：X1+X2+…+Xn为子组内的每个测量值。n 为子组的样本容量 A．4选择控制图的刻度 两个控制图的纵坐标分别用于X和R的测量值。对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值的最大值与最小值差的2倍。对于R图，刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差的2倍。 A．5将均值和极差画在控制图上 将均值和极差分别画在其各自的图上将各点用直线连接起来从而得到可见的图形和趋势。简要的浏览一下所有画上去的点，看是否合理，如果有的点高的很多或者低的很多，需确认计算和画图是否正确，应确保所画的X和R点在纵向是对应的。 B、计算控制限 B．1计算平均极差（R）及过程均值（X） R1+ R2+…Rk R= k X1+X2+…Xk X = k 式中：k为子组的数量，R1和X1即为第一个子组的极差和均值，R2和X2为第一个子组的极差和均值，等等。 B．2计算控制限 计算控制限：UCLR=D4R LCLR=D3R UCLX= X ＋A2R LCLX= X —A2R 式中：D4、 D3 、A2为常数，参见下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 B．3在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线 将平均极差和过程均值画成水平实线，各控制限画成水平虚线，把线标上记号。 C．过程控制解释 C．1分析极差图上的数据点 a．超出界限的点：出现一个或多个点超出任何一个控制限是该点处于失控状态的主要证据。任何超出控制限的点立即进行分析，找出存在特殊原因的信号。给任何超出控制限的点做标记，以便根据特殊原因实际开始的时间进行调查，采取纠正措施。 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： 控制限计算错误或描点时描错； 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），这种增大可以发生在某个时间点上，也可能是整个趋势的一部分； 测量系统变坏（例如，不同的检验员或量具） 测量系统没有适当的分辨力。 有一点位于控制限之下（对于样本容量大小等于7的情况），说明存在下列