钢结构超声检测第一、二、三章.ppt

* * （b）表面开口缺陷：如图（b）所示，探测出缺陷端部的峰回波，按下列公式求出缺陷高度J。 缺陷开口处与探伤面在同一侧时［见图（b）右半图］ J=Wcosθ 式中：W为缺陷端部峰值回波处距探头入射点的声程，θ为折射角。 缺陷在探测面的对面时[见图（b）左半图] J=（t-W）cosθ 式中：W为缺陷端部峰值回波处距探头入射点的声程，θ为折射角，t为壁 * * * * 三、6dB法测高 测试条件： 探头：聚焦斜探头 ，K1，2.5-5MHz 方法：直射法，如有困难也可用一次反射法 灵敏度：按需要，应使噪声不超过20%屏高。 测试方法： 将回波高度的选定值调到满屏高的80%～100%，移动声束使之偏离缺陷边缘，直至回波高度降低6dB。根据已知的探头入射点位置，声束角度和声程长度，标出缺陷的边缘位置。 * * * * a、内部缺陷 缺陷自身高度 H=（W2-W1）·cosθ 式中：W1和W2分别为缺陷上、下边缘位置至入 射点的声程，θ为折射角。 b、表面开口缺陷 1）当缺陷开口处在检测面一侧时 缺陷自身高度 H=W·cosθ 式中：W为缺陷下边缘位置至入射点的声程，θ为折射角。 2）当缺陷开口处在检测面另一侧时 缺陷自身高度 H=t-W·cosθ 式中：t—壁厚，mm； W—缺陷上边缘位置至入射点的声程，mm； θ—折射角，（°） * * 第八节 影响缺陷定位、定量的因素 一、影响缺陷定位的主要因素 1、仪器的影响 仪器水平线性 仪器水平刻度的精度 2、探头的影响 声束偏离 探头双峰 斜楔磨损 探头指向性 * * 3、工件的影响 工件表面粗糙度 （指向性变差） 工件材质 （声速、内应力） 工件表面形状 （指向性变化） 工件温度 （声速变化） 工件中缺陷情况 （缺陷方向） * * 4、操作人员 扫描速度调节误差 探头入射点、K值测量误差 缺陷最大波位置确定偏差 水平刻度读数偏差 定位方法错误 二、影响缺陷定量的因素 1、仪器及探头的影响 频率误差（当量计算法） 衰减器精度和垂直线性误差 探头型式和晶片尺寸 探头K值 * * 2、耦合和衰减的影响 表面耦合损耗 材质衰减 3、工件形状 底面形状 底面与探测面的平行度 侧壁干涉 4、缺陷自身的影响 缺陷形状 （回波声压） 缺陷方位 * * 缺陷波指向性 （缺陷大小） 缺陷表面粗糙度 （缺陷波指向性） 缺陷性质 （缺陷内含物） 缺陷位置 （近场区缺陷波高无规律） * * 第九节 缺陷类型识别和性质估判（JB4730.3-2005) 一、超声检测缺陷定性的意义和问题 在用承压设备的检验和安全评定，要求在用承压设备无损检测中，必须对超标缺陷进行缺陷类型识别和性质估判。 对于超声检测来说，由于A型脉冲反射式超声检测方法只能提供回波幅度和声波传播时间的信息，仅根据这两方面的信息来准确地判定缺陷性质是有很大困难的。 * * 二、波形类型的识别 1、回波动态波形的类型 波形模式I 波形模式Ⅱ 波形模式Ⅲ 波形模式Ⅲa 波形模式Ⅲb 波形模式Ⅳ * * ⑴、波形模式Ⅰ 荧光屏上显示出的一个尖锐回波，当探头前后、左右扫查时，其幅度平滑地由零上升到最大值，然后又平滑地下降到零，这是尺寸小于分辨力极限（即缺陷尺寸小于超声探头在缺陷位置处声束直径）缺陷的信号特征。 * * * * ⑵、波形模式 II 探头在各个不同的位置检测缺陷时，荧光屏上均显示一个尖锐回波。探头前后和左右扫查时，一开始波幅平滑地由零上升到峰值，探头继续移动时，波幅基本不变，或只在±4dB的范围内变化，最后又平滑地下降到零。下图表示声束接近垂直入射时，由光滑的大平面反射体所产生的波型模式Ⅱ。 * * * * ⑶、波形模式 Ⅲ ①波形模式 Ⅲa 探头在各个不同的位置检测缺陷时，荧光屏上均呈一个参差不齐的回波。探头移动时，回波幅度显示很不规则的起伏态（±6dB）。下图表示声束接近垂直入射，由不规则的大反射体所产生的波形Ⅲa。 * * * * ②波形模式 Ⅲb 探头在各个不同的位置检测缺陷时，荧光屏上显示脉冲包络呈