SGS之SPC管制图讲义[精].pptVIP

基礎統計學 講師:陳在和 一.常用的統計量 (1)樣本均值-代表總體均值 (2)樣本變異數-代表總體變異數 (3)樣本標準差-代表總體標準差 (4)較小的樣本量n時 .用中位數代表總體均值 .極差代表總體標準差 (5)平均數.中位數.眾數.分位數. ? 練習(一) 57 57 55 55 55 55 59 59 55 55 51 55 58 58 59 59 55 55 55 54 50 50 55 55 55 52 55 55 53 53 54 54 54 54 54 54 54 56 56 53 60 54 54 54 51 54 54 54 56 59 56 56 56 56 56 54 54 56 56 56 56 56 53 53 54 53 55 55 57 57 55 55 57 57 57 57 52 52 52 55 52 52 58 58 55 55 55 55 59 56 55 55 51 54 51 55 55 50 55 55 試求: 1. 平均數.中位數.標準差 2. 繪製長條圖.餅圖.曲線圖 3. 直方圖分析 二.總體與個體 1.在實際問題中我們把研究的對象稱為總體.把構成總體的每個成員稱為個體 2.研究總體的正態或偏態分布 3.兩個不同的正態加起來可能成為偏態分布.應追究其原因 三.抽樣與樣本 1.從總體中抽取部分個體所組成的集合稱為樣本 2.滿足隨機性及獨立性的樣本稱為簡單隨機樣本 3.抽樣最忌干擾.尤其是人為干擾.從而使得最後的統計推斷失效 4.將樣本分組陳列的叫做分組樣本 5.從小到大排列的叫做有序樣本 SPC統計製程管制 一. 關於變異.Walter Shewart 提出: 製造過程中的變異有二: (1) 正常變異: 過程內部引起的穩定份量 (2) 異常變異: 可查明原因的間斷變異 那些可查明原因的變異可用有效方法加以發現.並可被剃除.但正常變異不會消失.除非改變基本過程 3. 基於3 SIGMA限的管制圖可以把正常變異與異常便易區分開來 4.正常變異: (1) 過程內有許多變異源 (2) 每個變異源的出現是隨機的 (3) 每個變異源對質量特性的影響很微小 5.異常變異: (1) 過程內有許多變異源 (2) 每個變異源的出現是非隨機的 (3) 有一或數個變異源對質量特性的影響較 強.其他均很小.其總和分布將隨時間而變 二﹑控制(管制)圖的构造 控制圖的构造是基于正態分布﹐當質量特性x服從分布N(μ﹐σ2)時﹐x在μ+3σ內的概率為99.73%。 ( +-1σ 68.26% +-2σ 95.45% +-3σ 99.73% ) 在1000個產品中有不超過2.7個不合格品出現﹐就認為該過程的波動屬正常波動。 把正態分布圖及其控制限μ+3σ同時旋轉90度﹐并以橫軸為時間﹐以縱軸為過程參數(均值﹑標准差等)﹐并在μ+3σ處引出二條水平線(用虛線表示)。這樣就形成一張控制圖。 a．中心線(Central line,簡記CL)﹐對應均值μ b．上控制線(Upper control limit,簡記UCL)﹐ 對應μ＋3σ c．下控制線(Lower control limit,簡記LCL)﹐對 應μ－3σ 三﹑常規控制圖的類型与判讀 (一)常規控制圖主要分為兩類﹕ 一類是計量控制圖﹐ 另一類是計數控制圖 1﹑計量控制圖﹕ 均值－极差圖(x－R圖)﹕精度尚可﹐使用方便n=2~9 均值－標准差圖(x－s圖)﹕精度最高﹐計算量大﹐n≧2 若用手工點圖﹐建議選用x－R圖﹐若用計算机點圖﹐建議選用x－s圖﹐ 2﹑計數控制圖根据背景不同可分為二類﹕ (1) 不合格品率控制圖(p圖)﹕ 樣本量由p決定,一般較大﹐可不相等 (2) 不合格品數控制圖(np圖)﹕ 樣本量由p決定﹐一般較大﹐且要相等 (二) 常規控制圖判讀 1. 管制狀態 (1) 多數點在中心線附近 (2) 少數點在管制界限線附近 (3) 點之分布呈隨機狀態.無任何規則