第六章--光电子技术解析.ppt

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第六章--光电子技术解析

典型光电二极管--滨松(HAMAMATSU)公司产品: Si—Photodiode S1087/S1133 Series 三、PIN光电二极管 (1)本征层厚度近似等于反偏压下耗尽层的厚度,厚度为500um左右 (2)本征层相对于n区和p区是高阻区,高电阻使暗电流明显减小。反向偏电主要集中于这个区域,形成高电场区,由于p区很薄,光电变换主要集中在本征层,强电场使光生载流子渡越时间变短,改善了频率响应 (3)本征层的引入使得耗尽层加宽,减少了结电容,使电容时间常数变小,响应时间更快; 引入本征层对提高器件灵敏度和频率响应起非常重要的作用。 现有产品的PIN光电二极管性能参数 滨松Si PIN Photodiode 大光敏面的PIN光电二极管 噪 声: 硅PIN中,热噪声占优势。 锗PIN中,暗电流散粒噪声相比较大 四、雪崩光电二极管(APD) 雪崩二极管是具有内增益的光伏探测器,利用光生载流子在高电场区内的雪崩效应获得光电流增益,具有高灵敏度,响应快等优点。 工作原理-雪崩效应 p-n结 光生载流子产生 获得高能量,与晶格原子碰撞,晶格原子电离产生电子-空穴对 获得高能量,再次与晶格原子碰撞 产生新的电子-空穴对。上述过程不断重复,使p-n结内电流急剧倍增放大,这就是雪崩效应。 强电场作用下 加强反偏电压和光照 强电场作用下 2、雪崩光电二极管结构 n+ n+ p SiO2 电极 特点:(1)基片杂质浓度高(电阻率低),容易产生碰撞电离;(2)基片厚度比较薄,保证有高的电场强度,以便于电子获得足够的能量产生雪崩效应;(3)结边缘做成环状,其作用是减小表面漏电,避免边缘出现局部击穿。 材料:通常采用硅或锗材料,也可用III-V族化合物半导体制作。 3、雪崩二极管的特征参数 (1)倍增系数M IR:为无雪崩倍增时的p-n结 的反向电流; IM:有雪崩增益时的反向电流; M与p-n结上所加的反向偏压、p-n结材料和结构有关,可用经验公式表示: VBR:p-n结击穿电压,与器件工作温度有关,温度升高 时增大; n:与p-n结的材料和结构有关的常数,对于硅器件, n=1.5-4,锗,n=2.5-8。 雪崩倍增系数M、暗电流ID与所加偏压之间的关系 : 180 140 100 60 20 18 16 14 12 10 ID M 0 154 156 158 160 162 164 VA(V) ▽反偏电压低时,无雪崩效应,M=1,VA增加,倍增系数增大。 ▽反偏电压接近击穿电压时(最佳工作偏压:一般为几十伏到几百伏之间),倍增系数增加很快,暗电流增加也很快,这时雪崩增益系数为102-103。 (2)雪崩光电二极管的噪声 同倍增管相似,除普通光电二极管的散粒噪声之外还包含倍增过程引入的噪声,雪崩过程的散粒噪声为: 对于硅,k=2.3-2.5;对于锗,k=3)。上式可以写成: 其中 (过量噪声因子) r:电子与空穴电离之比。对于硅材料,r=50左右,锗材料,r=1左右。 硅光电二极管噪声小于锗二极管 (3)现有产品的雪崩光电二极管性能参数 (1)体积小,有较高的灵敏度,结构紧凑,工作电 压低,使用方便; (2)性能与入射光功率有关:通常当入射光功率在 1nW到几uW时,倍增电流与入射光具有较好的 线性关系,适合弱光探测。 (3)同PIN光电二极管相比,具有更高的灵敏度, 由于有内增益,可大大降低对前置放大器的要 求。 (4)由于偏压较高,载流子在结区的渡越时间短, 结电容很小,所以雪崩光电二极管的响应速度 很快 雪崩光电二极管的特点 五、光电三极管 特点:是有电流内增益的光伏探测器; (1)、光电三极管基本结构 工作电压:发射结正向电压,集电结反向电压 材料:硅npn型居多,锗pnp型居多 功能:1、光电转换,在集-基结内进行,与一般二极管相同; 2、光电放大:共发射极放大。 e:发射结 b:基极 c:集电极 电位最高 电位较高 电位最低 (2)光电三极管工作原理 光照时:基区产生电子-空穴对,光生电子在电场作用下漂移到集电极,形成光电流,空穴则留在基区,使基极电位升高,发射极便有大量电子经基极流向集电极,对于共发射极的三极管,形成的集电极电流Ic为 : 因此,光电三极管主要有两方面的作用:把光信号转换成电信号,光电流放大。 (β为共发射极电流放大倍数) (3)光电三极管特性 A、伏安特性

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