第三章半导体中载流子的统计分布报告.ppt

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第三章半导体中载流子的统计分布报告

第三章 半导体中 载流子的统计分布 教学目标、教学重点与难点 第三章 半导体中载流子的统计分布 状态密度 第三章 半导体中载流子的统计分布 费米能级EF的意义 第三章 半导体中载流子的统计分布 第三章 半导体中 载流子的统计分布 回顾:状态密度 一、杂质能级上的电子和空穴 一、杂质能级上的电子和空穴 杂质能级 最多只能容纳某个自旋方向的电子。 一、杂质能级上的电子和空穴 对于Ge、Si和GaAs: gA=4 gD=2 施主浓度:ND 受主浓度: NA: (1)杂质能级上未离化的载流子浓度nD和pA : 一、杂质能级上的电子和空穴 (1)低温弱电离区: 特征: 1、本征激发可以忽略, p0≌0。 2、导带电子主要由电离杂质提供。 3、nD+ 《 ND 弱电离 (2)中间弱电离区: (2)中间弱电离区: (3)强电离区: 注:强电离与弱电离的区分: (4)、过渡区: (4)、过渡区: 讨论: (5)、高温本征激发区: 一般情况下的载流子统计分布(自学) n型Si中电子浓度n与温度T的关系总结: n型Si中Ef与掺杂浓度的关系总结: 代入 杂质半导体中的载流子浓度 (4)、过渡区: 显然: ,过渡区接近于强电离区。 杂质半导体中的载流子浓度 (4)、过渡区: 杂质半导体中的载流子浓度 特征:1、杂质完全电离 nD+=ND 2、本征激发提供的载流子远大于 3、杂质电离的载流子 ni ND 电中性条件 n0=p0+nD+ 电中性条件 n0=p0+nD+ 可简化为 N0=p0 杂质半导体中的载流子浓度 1. 低温弱电离区 n型Si中Ef与温度T的关系总结: 4. 本征激发区 3. 过渡区 2. 饱和电离区 杂质半导体中的载流子浓度 杂质半导体中的载流子浓度 本征半导体的载流子浓度 本征半导体的载流子浓度 本征半导体的载流子浓度 本征半导体的载流子浓度 状态密度: 状态密度就是在能带中每单位能量间隔内的量子态数 。 回顾:费米分布函数和玻耳兹曼分布函数 回顾:费米能级EF的意义 其中: —— 导带有效状态密度 1. 电子浓度no 回顾:导带电子浓度 2. 空穴浓度po 价带中的空穴浓度为: 其中 —— 价带的有效状态密度 回顾:价带空穴浓度 3、载流子浓度积 浓度积nopo及影响因素 回顾:导带电子浓度和价带空穴浓度 回顾:本征半导体的电中性条件 回顾:本征半导体的电中性条件 回顾:本征半导体的电中性条件 1 状态密度 2 费米能级和载流子的统计分布 3 本征半导体中的载流子浓度 4 杂质半导体中的载流子浓度 5 简并半导体 杂质半导体中的载流子浓度 二、n型半导体的载流子浓度 杂质半导体中的载流子浓度 杂质半导体中的载流子浓度 杂质半导体中的载流子浓度 简并度: (2)电离杂质的浓度 杂质半导体中的载流子浓度 二、n型半导体的载流子浓度 ——讨论随温度升高载流子的浓度变化 杂质半导体中的载流子浓度 电中性条件 n0=p0+nD+ 电中性条件 n0=p0+nD+ 可近似为n0=nD+ 杂质半导体中的载流子浓度 (1)低温弱电离区: 杂质半导体中的载流子浓度 思路:首先写出电中性方程,求解出Ef,则n0和p0也随之确定. (1)低温弱电离区: 杂质半导体中的载流子浓度 特征: 1、本征激发可以忽略, p0≌0。 2、导带电子主要由电离杂质提供。 3、随着温度T的增加, nD+已足够大 电中性条件 n0=p0+nD+ 电中性条件 n0=p0+nD+ 可近似为n0

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