有关双锥对数复合天线测试不确定度的探讨.docVIP

有关双锥/对数复合天线测试不确定度的探讨 与使用双锥/对数复合天线进行辐射和场地有效性评价测试时的测量不确定度相关的因素有许多，其中包括天线的高度，极化和加载。 Zhong Chen EMC Test Systems Austin, TX 自第一次出现在1994年罗马国际EMC会议后，双锥/对数复合天线在全球的EMC实验室已得到广泛使用。由于使用此类天线在进行EMC测试无需中断频率扫描，可减少测量时间。EMC工程师简单的假定此类天线的特性在低频段及转换频点以上的高频段分别与单个的双锥天线和对数周期天线(LPDA)相同。这种简单的假设已经带来了一些问题，由于辐射发射及场地有效性的标准都是基于对称振子天线，而双锥/对数复合天线的相位中心位置和天线方向图的变化特性将给测量带来较大的测量不确定度。尽量越来越多的EMC工程师已经开始意识到估算和降低测量不确定度是EMC测试中的重要一环，但对双锥/对数复合天线相关的不确定度估算的研究开展的却很有限。 多数的天线厂商和校准实验室都提供了单个天线的校准天线因子(AF)及相关的不确定度（U）值。正确理解这些数据是很关键的。EMI和归一化场地衰减(NSA)测试是在引入一导电接地平面下测试的。校准实验室可能指供出十分精确的反映天线固有特性的自由空间对应的天线因子（AFs）。研究表明在接地平面上天线性能可有几个dB的变化，其大小取决于具体的天线型式。