25测量系统分析控制程序.docVIP

TH--QP—25 测量系统分析控制程序 编 写：张忠涛 审 核：蒋鹏云 批 准：蒋维兵 受控标识： 修改码： A0 生效日期：2013-12-01 页码： 第 1 页，共 6 页 修订履历 序号 条 款 页码 修改单号 修改码 修改人/日期 批准人 生效日期 1 新发布 2013-12-01 目的 为对测量过程深入了解并获得高质量的数据，有效地对制造过程及产品进行控制、分析和检验。制定本测量系统分析规则，明确测量系统的分析办法及判定准则。 范围 本规程适用于产品控制计划中涉及的所有测量系统。但是不可重复进行测量的测量系统（如破坏性试验）除外。 定义 计量型计测器：通过对被测特性的测量，可定量描述其优劣程度的计测器。 计数