金属逸出功的测量..docVIP

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  • 2017-01-22 发布于重庆
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金属逸出功的测量.

金属逸出功的测量 金属中存在大量的自由电子,但电子在金属内部所具有的能量低于在外部所具有的能量,因而电子逸出金属时需要给电子提供一定的能量,这份能量称为电子逸出功. ??? 研究电子逸出是一项很有意义的工作,很多电子器件都与电子发射有关,如电视机的电子枪,它的发射效果会影响电视机的质量,因此研究这种材料的物理性质,对提高材料的性能是十分重要的. 实验目的 (1) 用里查逊(Richardson)直线法测定钨的逸出功; (2) 了解光测高温计的原理和学习高温计的使用; (3) 学习图表法数据处理. 实验原理??? 电子从金属中逸出,需要能量.增加电子能量有多种方法,如用光照、利用光电效应使电子逸出,或用加热的方法使金属中的电子热运动加剧,也能使电子逸出.本实验用加热金属,使热电子发射的方法来测量金属的逸出功. 图1??? 如图1所示,若真空二极管的阴极(用被测金属钨丝做成)通以电流加热,并在阳极上加以正电压,在连接这二个电极的外电路中将有电流通过.这种电子从加热金属线发射出来的现象,称为热电子发射.??? 研究热电子发射的目的之一,是选择合适的阴极材料.诚然,可以在相同加热温度下测量不同阳极材料的二极管的饱和电流,然后相互比较,加以选择.但通过对阴极材料物理性质的研究来掌握其热电子发射的性能,是带有根本性的工作,因而更为重要.???                      ??

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