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中級SPC 袁公明 QC七大手法之六 查檢表 直方圖 柏拉圖 層別法 特性要因圖 散佈圖 管制圖 散佈圖 何謂散佈圖： 將對應的兩組數據，分別點入Ｘ、Ｙ座標圖中， 以觀測兩組數據間，是否相關及其相關程度。 主要目的：掌握問題的真因。 散佈圖 圖形： 散佈圖 製作方法： 蒐集相對應數據， 至少三十組 決定 X 軸及 Y 軸刻度，將各組對應數據標示在座標上 將 及 描繪於圖上 計算相關係數 散佈圖 使用要領 可由數據點的分佈情形，判斷兩種品質特性之 間的相關程度。 正相關強時：兩種品質特性同向變化； - 負相關強時：兩種品質特性反向變化； - 無關時：呈一團圓形； 曲線關係時： 呈曲線變化。 若有特異點，須探究其造成原因，散佈圖之應用亦可配 合層別法做進一步分析研判。 散佈圖 圖例： 散佈圖相關性 散佈圖相關性 散佈圖相關性 相關係數 = 0 表示 X 與 Y 沒有線性的關係 = 1 表示 X 與 Y 具有正的完全線性關係 = －1 表示 X 與 Y 具有負的完全線性關係 當 相關程度可分為三類： 散佈圖練習 計算R=? 正負相關? 相關強度? QC七大手法之七 查檢表 直方圖 柏拉圖 層別法 特性要因圖 散佈圖 管制圖 管制圖 何謂管制圖： 以縱軸代表產品品質特性，以製程變化數據為分度：橫軸代表產品的群體號碼、製造日期，依照時間順序將點畫在圖上，並連結，加上中心線及上下管制界限，即成為管制圖。 主要目的：掌握問題的真因。 管制圖的種類 計量型資料： 平均數-全距管制圖( Chart) 中位數-全距管制圖( Chart) 平均數-標準差管制圖( Chart) 個別值-移動全距管制圖( Chart) 計數型資料： 不良率管制圖( p Chart) 不良數管制圖( np Chart) 缺點數管制圖( c Chart) 單位缺點數管制圖( u Chart) 計量型數據圖表 計數型數據圖表 管制圖的選用 平均數-全距管制圖( Chart) 圖形： 步驟A 收集資料 選擇子組大小、頻率和資料 子組頻率：通常為連續或很短的時間間隔進行分組 子組數：一般包含25或100或更多的子組 建立控制圖及記錄原始資料 圖在R圖上方 值和R值為縱座標 時間先後的子組為橫座標 資料值、全距和均值點應縱向對齊 步驟A 收集資料 計算每個子組的均值和全距 選擇管制圖的刻度 圖最大值與最小值的差應為 2 。 R圖最小值為0(7組)，最大值為 2R。 將均值和全距畫到管制圖上 步驟B 計算控制限 計算平均全距及過程均值 (K為子組數) 計算管制限 控制圖上作出平均值和全距控制限的管制線 根據管制圖來估計標準差 步驟C 過程控制解釋 圖和R圖應分別分析 識別和標註特別原因 重新計算管制限 為了繼續進行控制而延長管制限 有關控制的最後概念---用於進一步的考慮 步驟D 過程能力解釋 計算過程的標準差 計算過程能力(CPK) 提高過程能力 對修改的過程重新繪製 圖 平均數-全距管制圖( Chart) 中位數-全距管制圖( Chart) 圖例： 步驟B 計算控制限 計算元組的中位數均值和全距和全距平均值 步驟B 計算控制限 計算全距和中位數的上下管制限 平均數-標準差管制圖( Chart) 圖例： 步驟B 計算控制限 計算子組的標準差 或 步驟B 計算控制限 計算上下管制限 估計過程標準差 個別值-移動全距管制圖( Chart) 步驟B 計算控制限 計算子組的過程均值和全距平均值 步驟B 計算