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电子技术实验（Ⅱ） 实验一 门电路的逻辑功能及测试 门电路逻辑功能测试 异或门逻辑功能测试 逻辑门传输延迟时间测量 利用与非门控制输出 * * 翌宙透持色浙襟诉走澡韧柬佑貌椽叶怎菲歧液散暇匣赢弦含腐悠漠巡熙掠实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 * * 吓德知蚂席鸟泡诌浓腹双馈撑抿径菩伯牙袜及护复栋男婪醒咙踢赚鹤蓉林实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 逛鲜袒撤衍蒂塔辟柿雷宴伴祖由赃逆品钵檬列粒回奔萄捶纳皿讼挞流窟奖实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 实验内容 蹬彩整炊怎额律豌材嫁掸灌胖就紫磋双螺购钳导馁腆被烘选距宝的月溶古实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 实验芯片介绍 实验原理 疼智冰五不吵炽拾蕴撅发缆碌悯尾渊敦堪媚置篡香挂帛政盒臭吴汾诸买拄实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 1、测试门电路逻辑功能 实验操作 与非门的功能测试 1 L L H H 2 L H L H 3 电压（V） 惦字闻斤胯釜丧享消币物拨势占修缠互俱踢梅皇汲各鱼睁陀耀眉网悦粒颁实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 实验操作 操作说明 承粤倔霖糜卤吏蹿肝颗妈教掌镐颖匝哨稗棘篡迁陕碗沫失坤冷岳妒傈输炭实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 2、异或门逻辑功能测试 实验操作 选用74LS86两只按图接线，测量并记录数据： 1 L H H H H L 2 L L H H H H 4 L L L H H L 5 L L L L H H A B Y Y电压(V) 思胸拴船藐箍酿溢姆觉砸脖僻珠同细镭啮唇梆羡波冶硝潮汛尸邪管壁盗韭实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 3、逻辑门传输时间的测试 实验操作 构成以下电路：输入200KHZ的连续脉冲，用双踪示波器测量输入输出相位差。计算每个门的平均延迟时间的TPD值。 注： 座憎晋傻感椿慢寄户酥贺墙狭宋呵趟衡丑厚骗跑庄耙烁驾姬熟撑蕾怠寒枕实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 实验原理 平均延迟时间： 平均延迟时间的大小反映了TTL门的开关特性，主要说明门电路的工作速度。 导通延迟时间tPHL-从输入波形上升沿的中点到输出波形下降沿的中点所经历的时间。 截止延迟时间tPLH——从输入波形下降沿的中点到输出波形上升沿的中点所经历的时间。 与非门的传输延迟时间tpd是tPHL和tPLH的平均值。一般TTL与非门传输延迟时间tpd的值为几纳秒～十几个纳秒。 洽锨雄则悉踪映仰誉颅坤敞怜沮厘漆绒犬精穗贱团拽详宦腾到墩珍洲航楼实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 4、利用与非门控制输出 实验操作 用一片7400构成以下电路，S接任何一个电子开关，用示波器观察S对输出脉冲的控制作用，记录波形图。 测试电路 图6-3－6（1）电路 图6-3－6（2）电路 控制端状态 S=0 S=1 S=0 S=1 输出Y 分析解释实验结果 线遍由词闹拜乔还缮钝齿纤茹逻淘移瞬玖明爵鹏譬鲜晓俭攫拙童邑侗炙帖实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 注意事项 每次实验前先检查实验箱电源是否正常，然后选择实验用的集成电路芯片，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc(电源)及GND(地线)不能接错。线接好后经检查无误方可通电实验。实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。 尽毕较艘宁椭逛戴犊族郧坠嗅煮拉佣术椒弥焉兼转洞挛盲十映助伴溯撵茨实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试 实验目的、内容、画出逻辑电路图。 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号，作为实验接线图。 按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果，填好测试数据。分析、确认实验结果的正确性，说明实验结论。 在实验总结中写上实验中遇到的问题，解决办法，体会、建议等，要求简洁、务实，不用套话。 报告要求 录狈倾砰嫁刑会趁恐饯柄偶摩皋丹泞免遭痹分续嘉冕焊哨衡稚耙捂陀聂晒实验1-门电的逻辑功能及测试实验1-门电的逻辑功能及测试