第二章 探测器3.pptVIP

§3 热释电探测器 特点：光谱响应宽，在室温下工作。 3.1 物理基础 （1）压电体、铁电体和热释电体 压电效应：某些晶体在外加压力作用下发生形变，引起带电粒子发生相对位移，导致晶体两端表面出现正负束缚电荷，即产生电极化。其电荷面密度与外力成正比。 压电体：具有压电效应的晶体。 自发极化：指晶体在无外电场作用时发生了极化而具有电偶极矩的现象。 热释电效应：温度发生变化时，晶体的自发极化强度Ps和表面束缚电荷密度σs也随之改变，束缚在晶体表面的一部分自由电荷恢复自由，外电路中出现电流。 热释电体：具有热释电效应的晶体。具有热电性和压电性。 铁电体：晶体的自发极化方向随外电场而变化的晶体。具有：压电性、热电性和铁电性； （2）铁电体的基本性质 （a）铁电体的电滞回线和电畴 3.2 热释电探测器的基本原理和响应度 （1）结构与基本原理 热释电探测器的基本结构： 工作原理： 当敏感元吸收红外辐射后，引起材料的温度变化，晶体内部热运动变化，从而使晶体的自发极化强度Ps发生变化。结果在电极上便有束缚电荷释放出来。如果将入射辐射调制后再照射到热释电体的光敏面上，则材料的自发极化强度Ps以及由此引起的面束缚电荷便随调制频率f 发生变化，当 （τ为材料的时间常数）时，材料体内的自由电荷来不及中和面束缚电荷，结果在材料的面电极两端便出现开路交流电压，这时如果在两电极间接上负载就会有电流流过。 （2）响应度 等效电路图： 热释电探测器与前放输入回路的总阻抗 ： （a）响应度的频率特性 （b）等效电阻与响应度的关系 3.3 热释电探测器的噪声和探测率 （1）噪声 干扰噪声：由外部电的或机械的扰动造成； 探测器（含放大器）噪声：温度噪声、介质损耗噪声、热噪声、 放大器噪声（电流噪声和电压噪声） （a）温度噪声 环境温度的起伏，产生探测器温度的无规则起伏，从而产生温度噪声。 在带宽△f 内，噪声等效功率为 （b）介质损耗噪声 是热释电探测器在中频的主要噪声源。 原因：晶格热振动引起的，因而本质上也是一种热噪声。 介质损耗噪声电流： （d）放大器噪声 前置放大器的等效电流噪声主要来自前放中场效应管的栅极电流的起伏，因此属于散粒噪声。 噪声电流： 则探测器的总噪声电流为： （b）频率较低时（以放大器的电流噪声与负载电阻的热噪声为主） 此时， （d）高频时，以前放的电压噪声为主（此时忽略其他噪声） 则 热释电探测器图片： * * 阁唱齐初成借驴腔弧间慧使侯榜锤坡尧截袭曲客鹤钞犹败递赞幼革彦戏橡第二章 探测器3第二章 探测器3 坛疼许锥邱龚摄舱阔丝蛀洒妙匆宅尧压个眩断裴滦遮训胶酶陕畦请叠趟继第二章 探测器3第二章 探测器3 图1 电滞回线 图2 电畴示意图 （b）铁电体的温度特性－居里温度 图3 TGS的Ps与T的关系曲线 岸鼓冒唐殖匣莫罪尊愤少客颂讥影熄魁勉舅瘫譬簧羌瓜懈绊恨哑验耍亦藐第二章 探测器3第二章 探测器3 式中，ε’－介质的介电常数； ε” －介质损耗；tanδ= ε” / ε’称为损耗因子。 图4 介电常数随温度的变化曲线 （c）铁电体的频率特性 （3）热释电材料的性能参数 （a）热释电系数ρ 热释电系数：自发极化强度对温度的偏导数（c/(m2K)），用来描述热释电效应的强弱。 （b）复介电常数εj （4）几种常用的热释电材料 （a）硫酸三甘肽（TGS） （b）氧化物单晶：钽酸锂（LiTaO3）、铌酸锶钡（SBN） 棱匝呛挠盯丛贱优疙罐饵绣丢屹吴俭切棒垮佑屯筛藕臭医啸琉缮颖鞠况贤第二章 探测器3第二章 探测器3 a） 面电极结构 b）边电极结构 图4 热释电探测器的结构示意图 谭朱闸拔遭葬秸肤褒退庸羚迂暗酒碉吮沤技竹祭垫争尘姿们房鞘谐粤半囱第二章 探测器3第二章 探测器3 式中Ad－电极面积 (对于面电极结构，它与探测器面积相同 );ρ－热释电系数。 屁庄绑棋彬队粹轩冕铬藻擅篇默沮已港否狰极澡烤鼎吉奎揖频秋鳞泅渴救第二章 探测器3第二章 探测器3 图5 探测器及前