材料试验方法X射线衍射X射线光电子能谱幻灯片.ppt

参考文献 [1] H.P.Klug，L.E.Alexander合著，盛世雄译，X射线衍射技术， 冶金工业出版社，1986 [2] 何崇智，郗秀荣等编，X射线衍射实验技术， 上海科学技术出版社， 1988 [4] 范雄主编，X射线金属学，机械工业出版社，1982 [5] 韩建成等编，多晶X射线结构分析， 华东师范大学出版社，1989 [6] Kompany A, Ghorbani-Moghadam T, Kafash S, et al. Frequency dependence of Néel temperature in CaMnO 3? δ ceramics: Synthesized by two different methods[J]. Journal of Magnetism Magnetic Materials, 2014, 349:135-139. [7] Park J W, Kwak D H, Yoon S H, et al. Thermoelectric properties of Bi, Nb co-substituted CaMnO 3 at high temperature[J]. Journal of Alloys Compounds, 2009, 487(s 1–2):550-555. X射线光电子能谱（ X-ray Photoelectron Spectroscopy , XPS) * 基本原理 特征X-ray * XPS的仪器 Instrumentation for XPS 图5-9 光电子能谱仪照片 Instrumentation for XPS 图5-8 光电子能谱仪示意图2 基本概念 以X 射线为激发光源，通过检测由固体物质表面逸出的光电子能量、强度、角分布等来获取物质表面元素组成及化学环境等信息的一种技术。 X-ray: 原子外层电子从L层跃迁到K层产生的射线。 常见的X射线激发源有： Mg Ka1,2(1254ev），Al Ka1,2(1487ev），Cu，Ti。 * X射线光电子能谱分析 电子能谱分析是一种研究物质表层元素组成与离子状态的表面分析技术。其基本原理是利用单色X射线照射样品，使样品中原子或者分子的电子受激发射，然后测量这些电子的能量分布。 通过与已知元素的原子或者离子的不同壳层的电子的能量相比较，就可以确定未知样品中原子或者离子的组成和状态。 X射线 电子 电子 被测样品 一般认为，表层的信息深度为10 nm左右。如果利用深度剖析技术如离子束溅射等，可以对样品进行深度分析。 光电子能谱的应用 元素的定性分析 元素的定量分析 固体表面相的研究 化合物结构的鉴定 一、元素定性分析 1.XPS定性分析依据 XPS产生的光电子的结合能仅与元素种类以及所激发的原子轨道有关。特定元素的特定轨道产生的光电子能量是固定的，依据其结合能就可以标定元素； 从理论上，可以分析除H，He以外的所有元素，并且是一次全分析，范围非常广。 定性分析 特点 尽管X射线可穿透样品很深但只有样品近表面一薄层发射出的光电子可逃逸出来，电子的逃逸深度和非弹性散射自由程为同一数量级范围。 致密材料如金属的约1nm。 有机材料如聚合物的5nm。 灵敏性。 非结构破坏性。 使得XPS成为表面分析的极有力工具。 * 元素组成鉴别 操作 给出表面元素组成，鉴别某特定元素的存在性。 方法：通过测定谱中不同元素内层光电子峰的结合能直接进行元素定性分析。 1）全谱扫描(Survey scan)； 2）窄谱扫描(Narrow scan or Detail scan) 主要依据是组成元素的光电子的特征能量值具唯一性。 * 2.XPS定性分析方法 元素（及其化学状态）定性分析即以实测光电子谱图与标准谱图相对照，根据元素特征峰位置（及其化学位移）确定样品（固态样品表面）中存在哪些元素（及这些元素存在于何种化合物中）。 标准谱图载于相关手册、资料中。 常用的Perkin-Elmer公司的《X射线光电子谱手册》载有从Li开始的各种元素的标准谱图（以Mg Kα和Al Kα为激发源），标准谱图中有光电子谱峰与俄歇谱峰位置并附有化学位移数据。 图5-11 标准XPS谱图示例 (a) Fe； (b) Fe2O3 2.XPS定性分析方法 分析时首先通过对样品（在整个光电子能量范围）进行全扫描，以确定样品中存在的元素；然后再对所选择的谱峰进行窄扫描，以确定化学状态。 定性分析时，必须注意识别伴峰和杂质、污染峰（如样品被CO2、水分和尘埃等沾污，谱图中出现C，O，Si等的特征峰）。 定性分析时一般利用元素的主峰（该元素最强最尖锐