研发硬件自测试报告.docxVIP

数通研发硬件自测试报告产品型号研发阶段硬件版本PCB版本BOM版本软件版本测试人员测试时间 修 订 记 录修订日期版本修订内容摘要修订审核批准目录1测试内容41.1纹波噪声、电压精度测试41.1.1测试方法41.1.2测试仪器与测试设备41.1.3纹波噪声、电压精度测试数据41.2上电顺序、过冲测试61.2.1测试方法61.2.2测试仪器与测试设备61.2.3上电顺序测试数据61.3上电复位测试71.3.1测试方法71.3.2测试仪器与测试设备71.3.3上电复位测试数据71.4时钟信号测试81.4.1测试方法81.4.2测试仪器与测试设备81.4.3时钟测试数据81.5按键测试101.5.1测试方法101.5.2测试仪器与测试设备101.5.3按键测试数据101.6指示灯测试111.6.1测试方法111.6.2测试仪器与测试设备111.6.3指示灯测试数据111.7光参数测试131.7.1测试方法131.7.2测试仪器与测试设备131.7.3光参数测试数据131.8PCM-4测试141.8.1测试方法141.8.2测试仪器与测试设备141.8.3PCM-4测试数据141.9常温常压性能测试数据171.9.1测试方法171.9.2测试仪器与测试设备171.9.3测试数据171.10无线测试181.10.1无线RF性能测试181.10.2测试仪器与测试设备181.10.3测试数据：181.10.4无线throughput测试211.11底噪测试221.11.1测试方法221.11.2测试仪器与测试设备221.11.3底噪测试数据221.12线路模拟传输性能231.12.1测试方法231.12.2测试仪器与测试设备231.12.3线路模拟传输性能测试数据23测试内容纹波噪声、电压精度测试 测试方法 常温下，产品满负荷运行，测试产品各芯片管脚、电源芯片或模块输出的电压值、纹波噪声；判定是否满足产品及芯片要求。 测试仪器与测试设备测试仪器型号数量数字示波器1PCS探棒电源适配器12V/1A DC1PCS网络测试仪Itester1PCS局端设备ZTE EPON OLT1PCS待测设备设备编号 纹波噪声、电压精度测试数据测试项目最大值(V)最小值(V)Spec(V)纹波Full测试点（靠近芯片）纹波Full(mV)纹波FullSpec（mV）纹波20MHz测试点（电源芯片输出）纹波20MHz(mV)纹波20MHzSPEC（mV）结论0.9V*95%~V105%V*5%301V*95%~V105%V*5%301.2V*95%~V105%V*5%501.5V*95%~V105%V*5%501.8V*95%~V105%V*5%502.5V*95%~V105%V*5%803.3V*95%~V105%V*5%805V*95%~V105%V*5%10012V*95%~V105%V*5%300测试图片压缩存放在这个位置。上电顺序、过冲测试 测试方法 常温下，产品满载，测试产品各电压的上电顺序以及过冲情况，验证是否满足芯片要求。测试仪器与测试设备测试仪器型号数量数字示波器1PCS探棒电源适配器12V/1A DC1PCS网络测试仪Itester1PCS局端设备ZTE EPON OLT1PCS待测设备设备编号 上电顺序测试数据测试项目上电顺序测试要求测试结果电源上电过冲测试结论BCM6358-3.3V2.5V≥0mS500.231uS过冲小于芯片要求Pass测试图片压缩存放在这个位置。上电复位测试 测试方法 常温下，产品满负荷持续运行，测试产品所有复位信号质量，判定其是否满足各芯片要求。测试仪器与测试设备测试仪器型号数量数字示波器1PCS探棒电源适配器12V/1A DC1PCS网络测试仪Itester1PCS局端设备ZTE EPON OLT1PCS待测设备设备编号 上电复位测试数据测试项目上电顺序测试要求测试结果结论CPU_JTAG_TRST≥200ns282.042 msPass测试图片压缩存放在这个位置。时钟信号测试 测试方法 常温下，产品满负荷持续运行，测试产品所有晶体/晶振时钟、接口时钟输出特性，判定是否满足芯片要求。测试仪器与测试设备测试仪器型号数量数字示波器1PCS探棒电源适配器12V/1A DC1PCS网络测试仪Itester1PCS局端设备ZTE EPON OLT1PCS待测设备设备编号 时钟测试数据时钟名称测试项目要求测试结果结论Y1(25MHz)边沿是否单调电平幅度频率周期正脉冲宽度负脉冲宽度上升时间下降时间占空比CPLL_REFCLK(CS8030)边沿是否单调电平幅度频率周期正脉冲宽度负脉冲宽度上升时间下降时间占空比测试图片压缩存放在这个位置。按键测试 测试方法指示灯能正常指示状态,各按钮能在串口打印一个相应的中断信息(由于软件没有整