材料分析考试习题大全.docVIP

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  • 2017-01-31 发布于重庆
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材料分析考试习题大全

材料分析方法习题 选择题 1. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B ) A. Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。 2. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( C ) A. Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。 3. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称( A ) A. 短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线 4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生( D ) A. 光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C).最常用的X射线衍射方法是( B )。 A. 劳厄法;B. 粉末法;C. 周转晶体法;D. 德拜法。 .射线衍射方法中,试样为单晶体的是(D ) A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、 A和B .晶体属于立方晶系,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为( B) A、(364) B、(234) C、(213) D、(468) .立方晶系中,指数相同的晶面和晶向(B ) A、相互平行 B、相互垂直 C、成一定角度范围 D、无必然联系 .晶面指数(111)与晶向指数(111)的关系是( C )。 A. 垂直; B. 平行; C. 不一定。 .在正方晶系中,晶面指数{100}包括几个晶面(

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