半导体集成电路复习总结.docVIP

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半导体集成电路复习总结

隐埋层杂质的选择原则; ①杂质固溶度大,以使集电极串联电阻降低; ②高温时在硅中的扩散系数要小,以减小外延时隐埋层杂质上推到外延层的距离; ③与硅衬底晶格匹配好,以较小应力 因此最理想的隐埋层杂质是砷(As) 外延层厚度包括哪几个部分,公式里的四项分别指什么? 延层厚度应满足 TepiXjc+Xmc+TBL-up+Tepi-ox 集区扩散结深Xjc 、集电极耗尽区宽度Xmc、埋层扩散上推距离TBL-up和为外延淀积后各道工序生成的氧化层所消耗的外延层的厚度tepi-ox; 双极集成电路工艺中的七次光刻和四次扩散分别指什么? 七次光刻:N+隐埋层扩散孔光刻; P+隔离扩散孔光刻;P型基区扩散孔光刻;N+发射区扩散孔光刻;引线接触孔光刻;金属化内连线光刻;压焊块光刻; 四次扩散:隐埋层扩散;P型隔离扩散;P型基区扩散;N+发射区扩散; 集成和分立的双极型晶体管结构上有何区别? 在pn结隔离工艺中,典型NPN集成晶体管的结构是四层三结构,(NPN管高浓度N型扩散发射区,NPN管P型扩散基区,n型外延层(PNP管集电极),p型衬底 EB结BC结CS结)而分立的是三层二结结构 扩散电阻最小条宽的确定原则;(P58) ①设计规则决定的最小扩散条宽Wmin ②工艺水平和电阻精度要求所决定的最小电阻条宽Wr,min ③流经电阻的最大电流决定Wr,min 分析了对电阻最小条宽的三种限制,在设计扩散电阻的最小条宽时应取其中最大的一个 SBD与普通二极管的相比,有哪些特点? ①SDB的正向导通压降Uth小; ②小注入时SDB是多子导电器件,改变电压时,响应速度快; ③SBD的反向饱和电流Ids大; ④SDB正向电压温度系数小; 集成电阻器和电容器的优缺点;(P55) 优点:元件间的匹配及温度跟踪好 缺点:①精度低,绝对误差大; ③可制作范围有限,不能太大,也不能太小; ②温度系数较大; ④占用的芯片面积大,成本高; 11、横向PNP管的直流电流放大倍数小的原因;(P31-34) ①存在纵向PNP的影响 A.在图形设计上减少发射区面积与周长之比 B在工艺上可采用增大结深及采用埋层工艺等方法 ②横向PNP管本身结构上的限制 A.其横向平均基区宽度不可能做得太小 B.发射极注入效率低 C.表面复合影响大 12、减小NPN晶体管中的集电极串联电阻rCS的方法;(P24) ①在工艺设计上,采用加埋层的方法以减小rcs ,在满足工作电压要求情况下减小外延层电阻率和厚度,采用深N+集电极接触扩散以减小rcs。 ②在版图设计上,电极顺序采用BEC排列来减小LEC ,以减小rc2 ,采用双集电极或马蹄形集电极图形减小rc2,但芯片面积及寄生电容增大了。 13、衬底PNP的特点;(P37) ①纵向PNP管的C区为整个电路的公共衬底,直流接最负电位,交流接地。适用范围有限,只能用作集电极接最负电位的射极跟随器。 ②晶体管作用发生在纵向,各结面较平坦,发射区面积可以做得较大,工作电流比横向PNP大。 ③ 因为衬底作集电区,所以不存在有源寄生效应,故可以不用埋层。 ④外延层作基区,基区宽度较大,且硼扩散p 型发射区的方块电阻较大,因此基区输运系数和发射效率较低,电流增益较低。 ⑤由于一般外延层电阻率ρepi较大,使基区串联电阻较大。 14、集成二极管中最常用的是哪两种,具体什么特点?(P40) ①集成齐纳二极管:反向工作的BC短接二极管,没有寄生PNP效应,且储存时间最短,正向压降低; ②次表面齐纳管:单独BC结二极管,不需要发射结,面积可以做得很小,结电容小,开关时间短,正向压降也很低,且击穿电压高 15、SCT的工作特点?(P43) (1)当SCT工作于正向工作区或截止区时,有(VBE0 VBC0或VBE0 VBC0)SBD处于反偏状态,可以忽略其作用,此时SCT相当于一般的NPN管 (2)当SCT工作于反向工作区或饱和区时,VBC0,此时又可分为两种情况: ①VBC小于SBD的导通压降,SBD仍未导通,所以IB,=IB。 ②VBC大于SBD的导通压降,于是SBD导通,IB被分流,晶体管的VBC被钳位0.45V 16、MOS集成电路工艺中提高场开启电压的方法?(P46) ①加厚场氧化层的初始厚度,并严格控制随后加工中的腐蚀量。 ②在场区注入(或扩散)与衬底同型的杂质,以提高衬底表面浓度,但掺入杂质要适当。 CMOS反相器设计采用两种准则: ①对称波形设计准则; ②准对称波形准则。 3.饱和E/E自举反相器的输出高电平比电源电压低一个开启电压;耗尽负载反相器,负载管为耗尽型MOSFET,其栅源短接。 4.有比反相器和无比反相器(P119) ①有比反相器在输出低电平时,驱

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