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双旋转波片Mueller矩阵测量系统的理论分析 报告人： 侯俊峰指导老师：王东光 * * 2009.9 研究目的： 拟建立一套能够对磁分析器精密定标的实验室检测设备，在此基础上完成对磁分析器的定标。磁分析器的测量精度主要决定于该设备的检测精度，因此该系统的校准、系统误差、检测精度是研究的重点。 主要内容： 双旋转波片Mueller矩阵测量系统的基 本原理 误差分析 下一步的工作 第一部分： 基本原理 测量系统示意图 1.1基本原理 令： 理想情况下： 易得：I的Fourier系数是M中各个元素的线性函数。Fourier变换求得各个系数，然后通过一系列的线性方程组求得M的所有元素。 Azzam, R.M.A, Optics Letters, 1978 1.2 三种方法比较 法一：直接测量 原理：调整两波片的方位角，使A和P各获取4个线性无关的Stokes矢，从而得到16个以M各元素为未知数的线性无关方程组。解方程组，求得M矩阵。 缺点：手动调整，不方便且误差大，测量时间长。 法二： 半自动测量 原理： 一波片（R1）以一定的角速度旋转，另一波片（R2）固定。R2每转动一个方位后，固定R2，R1旋转，探测器以一定频率接收。多次转动R2，探测得到一系列M元素的线性方程组，由最小二乘法可求得M。 缺点：R2需要手动调整，误差较大，测量周期也较长。 法三： 全自动测量（