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【2017年整理】电子探针
电子探针
科技名词定义
中文名称:
电子探针
英文名称:
electron probe
定义:
电子枪发射的电子束被聚光镜聚集成直径为纳米级的细束。
所属学科:
HYPERLINK /view/21354.htm \t _blank 机械工程(一级学科); HYPERLINK /view/1880886.htm \t _blank 光学仪器(二级学科);电子光学仪器-电子光学部件(三级学科)
本内容由 HYPERLINK /view/1490464.htm \t _blank 全国科学技术名词审定委员会审定公布
百科名片
一种分析仪器,可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。该仪器将高度聚焦的电子束聚焦在矿物上,激发组成矿物元素的特征X射线。用分光器或检波器测定荧光X射线的波长,并将其强度与标准样品对比,或根据不同强度校正直接计数出组分含量。
目录
HYPERLINK /view/923036.htm \l 1 简介
HYPERLINK /view/923036.htm \l 2 工作原理分析
HYPERLINK /view/923036.htm \l 3 功能及特色
HYPERLINK /view/923036.htm \l 4 主要用途
HYPERLINK /view/923036.htm \l 5 结构特点
HYPERLINK /view/923036.htm \l 6 技术支持
HYPERLINK /view/923036.htm \l 6_1
HYPERLINK /view/923036.htm \l 6_2
HYPERLINK /view/923036.htm \l 1 简介
HYPERLINK /view/923036.htm \l 2 工作原理分析
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HYPERLINK /view/923036.htm \l 6 技术支持
HYPERLINK /view/923036.htm \l 6_1
HYPERLINK /view/923036.htm \l 6_2
展开
HYPERLINK /view/923036.htm 编辑本段
简介
Electron Microprobe,全名为电子探针X射线显微分析仪,又名微区X射线谱分析仪。可对 HYPERLINK /view/1526329.htm \t _blank 试样进行微小区域成分 HYPERLINK /view/239473.htm \t _blank 分析。除 HYPERLINK /view/38518.htm \t _blank H、 HYPERLINK /view/126796.htm \t _blank He、 HYPERLINK /view/266070.htm \t _blank Li、 HYPERLINK /view/58865.htm \t _blank Be等几个较轻 HYPERLINK /view/19993.htm \t _blank 元素外,都可进行 HYPERLINK /view/858832.htm \t _blank 定性和 HYPERLINK /view/490571.htm \t _blank 定量分析。电子探针的大批量是利用经过 HYPERLINK /view/72037.htm \t _blank 加速和聚焦的极窄的电子束为 HYPERLINK /view/102276.htm \t _blank 探针,激发试样中某一微小区域,使其发出特征X射线,测定该X射线的波长和强度,即可对该微区的元素作定性或定量分析。将 HYPERLINK /view/442650.htm \t _blank 扫描电子显微镜和电子探针结合,在 HYPERLINK /view/2921.htm \t _blank 显微镜下把观察到的 HYPERLINK /view/1490886.htm \t _blank 显微组织和元素成分联系起来,解决 HYPERLINK /view/115747.htm \t _blank 材料显微不均匀性的问题,成为研究 HYPERLINK /view/2472109.htm \t _blank 亚微观结构的有力 HYPERLINK /view/74746.htm \t _blank 工具。
HYPERLINK /view/923036.htm 编辑本段
工作原理分析
HYPERLINK /image/3c2c4bf
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