二氧化钛的表征实验指导deflate.docVIP

X射线衍射技术及定性相分析 ——纳米TiO2的表征 一．实验目的与任务1．了解衍射仪的结构原理与衍射实验技术。2．掌握X射线定性相分析的基本原理和方法。3．测绘衍射图，并根据衍射数据。 二衍射仪的结构原理和样品衍射实验1. 衍射仪的结构和原理衍射仪是进行X射线分析的重要设备，主要由高压控制系统、测角仪、记录仪和水冷却系统组成。新型的衍射仪还带有条件输入和数据处理系统。图-1示出了X射线衍射仪框图。 图-1 X射线衍射仪框图测角仪是衍射仪的重要部分，其几何光路如图-2所示。X射线源焦点与计数管窗口分别位于测角仪圆周上，样品位于测角仪圆的正中心。在入射光路上有固定式梭拉狭缝S1和可调式发射狭缝K，在反射光路上也有固定式梭拉狭缝S2和可调式防散射狭缝L与接收狭缝F，有的衍射仪还在计数管C前装有单色器。当给X光管加以高压，产生的X射线经由发射狭缝照射到样品上，晶体中与样品表面平行的面网，在符合布拉格条件时即可产生衍射而被计数管接收。当计数管在测角仪圆所在平面内扫描时，样品与计数管以1：2速度连动。因此，在某些角位置能满足布拉格条件的面网所产生的衍射线将被计数管依次记录并转换成电脉冲信号，经放大处理后通过记录仪描绘成衍射图。 图-2 测角仪光路布置图?2. 衍射实验方法X射线衍射实验方法包括样品制备、实验参数选择和样品测试。（1）样品制备在衍射仪法中，样品制作上的差异对衍射结果所产生的影响，要比照相法中大得多，因此，制备符合要求的样品，是衍射仪实验技术中重要的一环，通常制成平板状样品。衍射仪均附有表面平整光滑的玻璃的或铝质的样品板，板上开有窗孔或不穿透的凹槽，样品放入其中进行测定。1）粉晶样品的制备 将被测试样在玛瑙研钵中研成10μm左右的细粉； 将适量研磨好的细粉填入凹槽，并用平整光滑的玻璃板将其压紧； 将槽外或高出样品板面的多余粉末刮去，重新将样品压平，使样品表面与样品板面一样平齐光滑。若是使用带有窗孔的样品板，则把样品板放在一表面平整光滑的玻璃板上，将粉末填入窗孔，捣实压紧即成；在样品测试时，应使贴玻璃板的一面对着入射X射线。2）特殊样品的制备对于金属、陶瓷、玻璃等一些不易研成粉末的样品，可先将其锯成窗孔大小，磨平一面，再用橡皮泥或石蜡将其固定在窗孔内。对于片状、纤维状或薄膜样品也可取窗孔大小直接嵌固在窗孔内。但固定在窗孔内的样品其平整表面必须与样品板平齐，并对着入射X射线。（2）测量方式和实验参数选择1）测量方式衍射仪测量方式有连续扫描法和步进扫描法。连续扫描法是由脉冲平均电路混合成电流起伏，而后用绘图记录仪描绘成相对强度随2θ变化的分布曲线。步进扫描法是由定标器定时或定数测量并由数据处理系统显示或打印，或由绘图仪描绘成强度随2θ变化的分布曲线。不论是哪一种测量方式，快速扫描的情况下都能相当迅速地给出全部衍射花样，它适合于物质地预检，特别适用于对物质进行鉴定或定性估计。以衍射花样局部做非常慢的扫描，适合于精细区分衍射花样的细节和进行定量的测量。例如混合物相的定量分析，精确的晶面间距测定、晶粒尺寸和点阵畸变的研究等。2）实验参数选择狭缝：狭缝的大小对衍射强度和分辨率都有影响。大狭缝可得到较大的衍射强度，但降低分辨率，小狭缝可提高分辨率但损失强度，一般如需要提高强度时宜选大些的狭缝，需要高分辨率时宜选小些的狭缝，尤其是接收狭缝对分辨率影响更大。每台衍射仪都配有各种狭缝以供选用。量程：量程是指记录纸满刻度时的计数（率）强度。增大量程可表现为X射线记录强度的衰减，不改变衍射峰的位置及宽度，并使背底和峰形平滑，但却能掩盖弱峰使分辨率降低，一般分析测量中量程选择应适当。当测量结晶不良的物质或主要想探测分辨弱峰时，宜选用小量程。当测量结晶良好的物质或主要想探测强峰时，量程可以适当大些，但以能使弱峰显示、强峰不超出记录纸满标为限。时间常数和预置时间：连续扫描测量中采用时间常数，它是指计数率仪中脉冲平均电路对脉冲响应的快慢程度。时间常数大脉冲响应慢，对脉冲电流具有较大的平整作用，不易辨出电流随时间变化的细节，因而，强度弧线相对光滑，峰形变宽，高度下降，峰值移向扫描方向；时间常数过大，还会引起线性不对称，使一条线的后半部分拉宽。反之，时间常数小，能如实绘出计数脉冲到达速率的统计变化，易于分辨出电流随时间变化的细节，使弱峰易于分辨，衍射线性和衍射强度更加真实。计数率仪均配有多种可供选择的时间常数。步进扫描中采用预置时间来表示定标器一步之内的计数时间，起着与时间常数类似的作用，也有多种可供选择的方式。扫描速度和步宽连续扫描中采用的扫描速度是指计数器转动的角速度。慢速扫描可使计数器在某衍射角度范围内停留的时间更长，接收的脉冲数目更多，使衍射数据更加可靠。但需要花费较长的时间，对于精细的测量应采用慢扫描，物相的预检或常规定性分析可采用快