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统计过程控制 （SPC） 1．概述 ·SPC是一种方法——是使用统计技术，研究产品和过程的变差，并在统计控制及过程能力分析的基础上，实现持续改进。 ·检验和预防 检验——容忍浪费（结果上下工夫） 预防——避免浪费（过程上下功夫）。SPC是一种预防 2．变差的两种原因 ·变差：过程的单个输出之间不可避免的差异；变差的来源可分成两个主要的类别：普通原因和特殊原因。 ·由于机器、工具、材料、人员、加工方法、检测及环境（5M1E），对过程的影响造成产品的变差。 ·分布图形，特性： 1）位置； 2）分布宽度（从最小值到最大值之间的距离）； 3）形状（变差的模式——是否对称、偏斜）。 ·普通原因 变差的一种来源，它影响被研究的过程的输出中的所有单值；它是过程固有变差的来源。 ·特殊原因 一种变差来源,其只会影响过程的某些输出；它通常是间歇性的且不可预计的。特殊原因有时被称为可查明原因，它的发生信号是：一个或多个点超出控制限，或在控制限之内出现一种非随机性的模式。 3．控制图——过程控制的工具 作用：区分变差的普通原因和特殊原因。当出现特殊原因时，控制图能有效地引起人们注意，当普通原因产生的变差变化时，它能反映它的大小。当处于统计控制状态时，控制限可用于解释过程能力。过程改进后能反映改进的效果。因此控制图已被广泛使用于过程控制中。 4．控制图的种类 ·计量型数据控制图分类 均值和极差图（图） 均值和标准差图（图） 中位数图（图） 单值和移动极差图（X-MR图） ·计数型数据控制图分类 不合格品率的P图 不合格品数的np图 不合格数的C图 单位产品不合格数的U图 图 ·制作和使用控制图的一般步骤 1）收集预备数据 按事先规定的特性值，抽样间隔和样本的大小n，抽取k个样本，对每一个样本内的每个样品测定其特性值，将其填在数据表中，一般要求k≥25。 2）制作分析用控制图 （1）计算每一个样本的均值与极差R R=Xmax — Xmin （2）计算K个样本的均值与极差 （3）计算中心线上和上下控制线 —图 中心线CL= 上控制线UCL= 下控制线LCL= R—图 中心线CL= 上控制线UCL= 下控制线LCL= 式中：A2、D3、D4见附表 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * * * * 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 表中D3为“*”时用0代替。 （4）作分析用控制图 分别作与R图，图在上，R图在下，纵坐标分别为与R，横坐标为样本序号。用实线表示CL，用虚线表示UCL与LCL。然后把各个样本的与R的值分别依次点在与R图上、再用直线将相邻的两点连接成折线。  （5）判断生产过程是否处于统计控制状态 满足下述条件时，认为生产过程处于统计控制状态： ——没有一点在限外 ——没有连续7点全在中心线之上或之下 ——没有连续7点呈上升或下降趋势 ——没有任何其它明显非随机的图形 （6）当生产过程不处于统计控制状态时，应采取的措施 应消除降低质量的异常原因，同时去掉异常数据点对应的一组数据，重新计算中心线和控制界限。当异常数据比例较大时，应改进生产过程，重新收集数据，并重新计算中心线和控制界限。 3）计算过程能力指数 过程能力是指一个过程（或工序）能够生产合格品的能力，过程能力指数是过程能力大小的一种定量描述。 计算公式： 对于双向容差 Zmin=ZUSL或ZLSL的最小值 对于单边容差： 或 选择合适的一个 在—R图中，标准差的估计可用正式： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 2.97 3.08 4）作控制用控制图 当生产过程满足质量要求时，我们便可以用上面获得的控制中心线和上下控制界限画出控制图，放在生产现场用来对质量指标进行控制，这张图便是控制用控制图。 在生产现场用控制图时，应按收集预备数据同样的时间间隔，同样的样本容量抽取样本，测定、计算和描点，并判断生产过程是否处于统计控制状态。无异常时，继续生产，如果发生异常，及时消除产生的原因。 5）修正控制图 P图 ·制作和使用P图的一般步骤 1）收集预备数据 每一样本的容量可不完全相同 2）制作分析用控制图 （1）计算每一个样本的不合格品率 （2）计算K个样本的总的不合格率 （3）计算P图的中心线和上下控制界限 中心线CL= 上控制界限 下控制界限 其中ni 最好相同，因为当样