材料微观分析期末复习应化08级gfxu.doc

判断20 选择20 填空20 计算5 简答25 证明10 名词解释 俄歇电子：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子(实际是离子)处于激发态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。 背散射电子：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。 质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。 系统消光：因(F(2=0而使衍射线消失的现象称为系统消光。 物相分析：指确定材料由哪些相组成(即物相定性分析或称物相鉴定)和确定各组成相的含量(常以体积分数或质量分数表示，即物相定量分析)。 暗场像：在透射电镜中，选用散射电子（衍射电子）形成的像则称为暗场像。 景深：景深是指透镜物平面允许的轴向偏差。 填空题 多晶体（粉晶）X射线衍射分析的基本方法为照相法和衍射仪法。 透射电镜的样品可分为直接样品和间接样品。 X射线衍射、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描投射电子显微镜的英文字母缩写分别是XRD、TEM、SEM、STEM。 电子束与固体物质（样品）相互作用可能产生的信号主要有背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、特征X射线和俄歇电子等。 电子透镜有静电透镜和磁透镜两种类型。 透射电镜的两种基本操作是成像操作和衍射操作。 电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳埃斑点、超点阵斑点、二次衍射斑点、孪晶斑点和菊池衍射花样。 当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线谱和特征X射线谱。 产生衍射的必要条件是满足布拉格方程，充分条件是衍射强度不等于0。 电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。 X射线管主要由阳极、阴极和窗口构成。 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 所谓复型，就是样品表面形貌的复制，主要采用的复型方法有一级复型法、二级复型法和萃取复型法三种。 光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。在可见光波长范围，光学显微镜分辨本领的极限为200 nm。 弹性散射是透射电子显微镜的成象基础。 判断题 俄歇电子能谱不能分析固体表面的H和He。（√） 二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率高。（√） 低能电子衍射（LEED）适合于分析所有固体样品的表面结构。（×） 俄歇电子能谱适合于分析所有固体样品的表面化学成分。（×） 透射电镜图像的衬度与样品成分无关。（×） 扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。（√） 在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。（√） 电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。（×） 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（√） 电磁透镜是一种变焦距或变倍率的会聚透镜，这是它有别于光学玻璃凸透镜的一个特点。（√） 选择题 下列方法中，（A）可用于测定方解石的点阵常数。 X射线衍射线分析 B、红外光谱 C、原子吸收光谱 D 紫外光谱子能谱 下列（D）晶面属于[110]晶带。 A、（110） B、（011） C、（101） D、（(1ī0） 最常用的X射线衍射方法是（B）。 A、劳厄法 B、粉末多晶法 C、周转晶体法 D、德拜法 可以提高TEM的衬度的光栏是（B）。 A、第二聚光镜光栏 B、物镜光栏 C、选区光栏 D. 其它光栏 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D） A、六方结构 B、立方结构 C、四方结构 D、A或B。 下面分析方法中分辨率最高的是（C）。 A、SEM B、TEM C、STM D、AFM 已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（B）。 A、Co B、Ni C、Fe D、Cu X射线物相定性分析方法中有三种索引，当不知所测物质为何物时可以采用（D）。 A、哈氏无机数值索引 B、芬克无机数值索引 C、戴维无机字母索引 D、A和B X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（C） A、哈氏无机数值索引 B、芬克无机数值索引 C、戴维无机字母索引 D、A和B 透射电子显微镜中可以消除的像差是（B）。 A、球差 B、像散 C、色差电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1 nm厚表层成分的信号是（B）。 A、背散射电子 B、俄歇电子 C、特征X射线 布施指出（B）能使电子波聚焦。 A、轴对称均匀磁场 B、轴对称非均匀磁场 C、中心对称均匀磁场 D、中心对称非均匀磁场 光学显微镜的分辨本领为（C） A、2 B、 C、 简答题 为什么说扫描电镜的分辨率和信号的种类有关？试将各种信号的分辨率高低作一比较。 答：扫描电镜的分辨率和信号的种类有关，这