浅谈特高频和超声波原理及在GIS局部放电中的实际案例.docVIP

浅谈特高频和超声波原理及在GIS局部放电中的实际案例 　　摘 要：目前GIS绝缘在线监测与诊断最有效的方法是局部放电监测，局部放电发生时，电磁波的信号根据GIS 结构反复进行传播、反射、折射、迟延、衰减等现象，通过盆式绝缘子（绝缘件）放射到外界，GIS 绝缘子泄漏的电磁波，利用高灵敏度内置型或外置型传感器，进行检测。传感器检测到的信号通过铜电缆传到局部放电信号处理装置，进行信号处理，再利用诊断程序分析局部放电种类和杂波，进行确认，文中简单介绍了超声波和特高频两种GIS设备局部放电检测和定位方法，证实了两种方法检测GIS内部局部放电的有效性。 　　关键词：GIS、局部放电；特高频；超声波；在线监测；检测 　　前言 　　GIS目前的预防性试验手段较少，为了防止GIS 的事故，有必要对GIS 内部绝缘状态，在带电状态下进行预防诊断；随着科技的发展，借助一些专业设备及软件进行分析、判断是否有异常。对GIS进行局部放电检测可以弥补耐压试验的不足，通过在线检测能发现GIS制造和安装的“清洁度”，能发现绝缘制造工艺和安装过程中的缺陷、差错，及时发现各种可能的异常或故障预兆，从而进行及时、有效的处理，确保设备安全运行，避免重大事故发生。 　　一、 GIS绝缘缺陷类型分析 　　要深入研究GIS局部放电，首先应将缺陷进行分类，并了解各类缺陷的特征、严重程度及发生的绝缘故障比率，然后针对不同类型的缺陷进行分析研究，从而找到影响绝缘故障的主要因素。根据一组统计数据，由不同绝缘缺陷引发的故障比例见表1.1。 　　下面针对GIS内部几种常见的缺陷分别进行了具体分析 　　微粒及异物的影响 　　从表1统计中看出，自由微粒及异物故障占总故障的20%。究其产生的原因，主要是现场安装条件不如生产工厂优越，无法彻底清除GIS设备内部的微粒及异物，这些微粒及异物以自由金属微粒危害最甚。GIS设备内部的金属微粒，具有以下几个主要特征： 　　1）自由金属微粒在电压作用下获得电荷并发生移动，当电压超过一定值时，这些微粒就能在接地外壳和高压导体之间跳动，从而发生局部放电。 　　2）当金属微粒移动靠近而未接触高压导体时，如果距离小于某一极限值，在强电场力作用下，容易引起局部放电。 　　3）绝缘子表面上的金属微粒，常常在设备交接试验时检测不出来，经过一段运行，由于机械振动或操作过电压引起的静电力，使它产生轻微的移动而形成微粒堆积，在某种程度上加大了放电发生的几率。 　　4）当金属微粒游离到绝缘子的表面，在一定条件下被固定下来时（比如被油脂粘住），这样绝缘子表面的金属微粒状似金属突出物，在高电压环境下，极易造成尖端放电。 　　接触不良的影响 　　据统计，在GIS设备所有运行故障中，接触不良发生的故障达到29%，占所有故障发生率之首。此类故障可分为两类： 　　1）由主触头接触不良而产生的故障占11%，分析其产生的原因，一方面是自由微粒在试验中不易被检测，而得不到彻底的清理。这些自由微粒附着主触头表面，使接触电阻增大，一旦主触头处于接触状态，因电阻大而发热烧损。另一方面，随着GIS设备长时间地运行，在电弧的作用下主触头容易发生烧损，以上两种因素如果得不到及时的维护，从而逐渐发展成主触头接触不良的故障。 　　2）由屏蔽罩接触不良而产生的故障占18%，常在设备运行中发生。并随着运行时间延续而发展（如短路电流或断路器操作的振动作用），最终威胁或破坏GIS的绝缘性能。 　　潮湿的影响 　　由于潮湿引起的故障占7%。通常对SF6介质性能影响最大的成分是水蒸气，如果水蒸气过量，当温度下降时就会出现凝露，结合其他混合物，就会影响介质表面的导电性，促使介质老化或直接引发故障。 　　高压导体尖刺的影响 　　高压导体上的尖刺占故障总体的5%，这些尖刺通常是加工不良、机械破坏或组装时的擦刮等因素造成的，从而形成绝缘气体中的高场强区。这些尖刺在工频电压下电晕比较稳定，因而在稳态工作条件下一般不会引起击穿。然而，在快速暂态条件下，譬如在雷电波，尤其是快速暂态过电压情况下，这些缺陷就会引起故障。 　　绝缘子缺陷的影响 　　绝缘子上发生的击穿故障占10%，因为大多数故障是由于早期的绝缘子空穴问题造成的，所以固体绝缘的缺陷常发生在固体绝缘表面或内部。绝缘表面缺陷通常是由其它类型缺陷引起的二次效应，比如局部放电产生的分解物、金属微粒引起的破坏。 　　其它因素的影响 　　由其它因素造成的故障占1l%，例如，GIS设备的器件体积大、重量大，在搬运过程中，因机械振动、组件的互相碰撞等外力作用，常使紧固件松动、元件变形和损伤。另外，GIS设备装配工作是一个复杂的过程，组件连接和密封工艺要求很高，稍有不慎就会造成绝缘损伤、电极错位等严重后果，为GIS的运行埋下了隐患。