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TDN-CM实验仪简介 TDN-CM实验仪是一个计算机的模型机，采用单元电路结构， 实验既可按各单元模块做，也可以将各模块连接成整机运行。 实验仪主要分为: 运算器模块（ALU UNIT） 主存储器模块（PRAM UNIT） 微控器模块（MICRO-CONTROLLER UNIT） 时序电路模块（STATE UNIT） 实验板简介 运算器 存储器 微控器 时序电路 地址/数据开关 数据总线 控制信号开关 电源开关 74LS273 2片 分别组成数据寄存器 DR1、DR2 74LS299 8位移位寄存器 74LS245 2片 分别组成输入三态门和输出三态门 AUJ3 数据输出排针 2. 存储器模块（PRAM UNIT） 静态RAM6116 74LS273 地址寄存器 74LS161 PC寄存器 AUJ5 数据输出排针 ADJ6 PC输出排针 地址指示灯 AD7~AD0 1. 运算器模块（ALU UNIT） SN74181 2片 组成8位算术逻辑单元 3. 微控器模块（MICRO-CONTROLLER UNIT） E2PROM 2816 控存（3片,24位） MK23~MK0 24位微代码输入开关 MD23~MD0 24位数据指示灯 UA5~UA0 6位微地址指示灯 4. 时序电路（STATE UNIT） ? 时钟源 START 微动开关 KK2 微动开关 5. 数据/地址开关 SWJ3 数据/地址排针 D7~D0 数据/地址指示灯及开关 指示灯亮—— 0 指示灯灭—— 1 实验仪上所有指示灯均按此规定 6. 数据总线（BUS UNIT） 数据总线由若干排针组成，B7~B0，总线指示灯指示总线数据 几点要求: 1.实验完成后请将排线理好放入实验箱内。 2.将电源线放入实验箱内。 实验一 运算器实验 实验目的 1.掌握运算器的数据传送通路。 实验设备 TDN-CM 实验系统 实验内容 1.实验电路分析（实验手册P2）图1-1 2. 电路连接 （实验手册P3） 图1-2 T4——KK2 ALU单元与二进制控制信号开关之间的连接： S3~S0、Cn、M、LDDR1、LDDR2、ALU-B 2.验证运算器的组合功能。 数据单元SW-B与控制信号开关单元之间的连接。 排线连接时注意排线的颜色，中间不要扭转。 ALU的数据输出与总线连接：AUJ3——总线单元 3.运算器功能验证 步骤： （1）数据置入DR1、DR2 DR1 DR2 （具体步骤见讲义P2） （2）检验DR1、DR2的数据输入是否正确 （P3 第一段） （3）验证运算器功能 通过搬动S3~S0、Cn、M的二进制开关，观察运算器的输出结果，与已经算出的表1-1的结果相比较。 数据开关与数据总线的连接：SWJ3——总线单元 *在进行电路连接时一定要关掉电源。 功能表验证举例： S3~S0=0100 教材P31 ALU功能表 M =0（算术运算）Cn=1（无进位）A加(A·B反) A B B反 (A·B反)逻辑与） A加(A·B反)A5H（算术加） Cn=0（有进位） A加(A·B反) 加1=A6H M=1（逻辑运算） （A·B）反 （A·B）：·00100101 （A·B）反DAH 实验一完 存储器 时序电路 地址/数据开关 数据总线 实验二模块图 实验二 存储器实验 实验目的 掌握静态随机存储器RAM的特性及读写方法。 实验设备 TDN-CM 实验系统 实验内容 1.实验电路分析（实验手册P12 图2-1） 静态RAM6116，2k×8； AR地址寄存器(74LS273)； 地址指示灯AD7~AD0； ADJ5存储器数据输出排针 若干控制信号：CE(CS)、WE、T3、LDAR、S