7实验验七应变、差动变压器等基本传感器型物理设计性实验题库.docVIP

应变、差动变压器等 DH-SJ2基本传感器型物理设计性实验（选做其中部分实验） 实验一 金属箔式应变片性能—单臂电桥 实验目的：了解金属箔式应变片，单臂单桥的工作原理和工作情况。 所需模块及仪器设备： 直流恒压源DH-VC2、电桥模块（只提供器件）、差动放大器（含调零模块）、测微头及连接件、应变片、万用表、九孔板接口平台和传感器实验台一。 旋钮初始位置： 直流恒压源DH-VC2±4V档，万用表打到2V档，差动放大增益中间位置。 实验步骤： 1、了解所需模块、器件设备等，观察梁上的应变片，应变片为棕色衬底箔式结构小方薄片。上下二片梁的外表面各贴二片受力应变片。测微头在双平行梁后面的支座上，可以上、下、前、后、左、右调节。安装测微头时，应注意是否可以到达磁钢中心位置； 2、差动放大器调零：V+接至直流恒压源的+15V,V-接至-15V,调零模块的GND与差动放大器模块的GND相连，VREF与VREF相连，V+与V+相连，再用导线将差动放大器的输入端同相端VP（＋）VN（－） 3、根据图1接线R1、R2、R3R4则为应变片；将直流恒压源的打至±4V档，万用表置20V档。开启直流恒压源，调节电桥平衡网络中的电位器W1，使万用表显示为零； 图1 4、将测微头转动到10mm刻度附近，安装到双平等梁的自由端（与自由端磁钢吸合），调节测微头支柱的高度（梁的自由端跟随变化）使万用表显示最小，再旋动测微头，使万用表显示为零（细调零），并记下此时测微头上的刻度值（要准确无误地读出测微头上的刻度值）。 5、往下或往上旋动测微头，使梁的自由端产生位移(X)记下万用表显示的值。建议每旋动测微头一周即ΔX＝0.5mmX（mm） U（mv） 6、据所得结果计算灵敏度S＝ΔU／ΔXΔX为梁的自由端位移变化，ΔU为相应万用表显示的电压相应变化）。 7、在托盘未放砝码之前，记下此时的电压数值，然后每增加一只砝码记下一个数值并将这些数值填入下表。根据所得结果计算系统灵敏度S=ΔU／ΔWU-W关系曲线，ΔU为电压变化率，ΔW为相应的重量变化率。(重量用W表示，电压用U表示，后面所用，与此相同，不再另作说明。) W（g） 20 40 60 80 100 120 U（mv） 1) 本实验电路对直流恒压源和放大器有何要求？ (2) 根据原理图，简要分析差动放大器的工作原理。 注意事项： (1)在记录数据之前，请将测微头调至一个合适位置。合适位置：指的是测微头螺杆最长及最短时，万用表示数的范围要足够大。调节方法：通过调整测微头支杆座的高度来实现； (2)在旋转旋钮时，请不要转动测微头支杆。 实验二 金属箔式应变片：单臂、半桥、全桥比较 实验目的：验证单臂、半桥、全桥的性能及相互之间关系。 所需模块及仪器设备： 直流恒压源DH-VC2、差动放大器、电桥模块、万用表、测微头及连接件、传感器实验台一、应变片和九孔板接口平台。 旋钮初始位置： 直流恒压源±4V档，万用表打到2V档，差动放大器增益中间位置。 实验步骤： 1、差动放大器调零：V+接至直流恒压源的+15V,V-接至-15V,调零模块的GND与差动放大器模块的GND相连，VREF与VREF相连，V+与V+相连，再用导线将差动放大器的输入端同相端VP（＋）VN（－）2、按图2接线，图中RX为应变片，r及W1为可调平衡网络。 图2 3、安装和调整测微头到磁钢中心位置并使双平行梁处于水平位置(目测)，记下该刻度值，再将直流恒压源打到±4V档。选择适当的放大增益，然后调节电桥平衡电位器W1，使万用表显示为零。 4、旋转测微头，使梁移动，每隔0.5mm读一个数，将测得数值填入下表，然后关闭直流恒压源： X（mm） U（mv） 5、保持放大器增益不变，将R3固定电阻换为与RX工作状态相反的另一应变片即取二片受力方向不同应变片，形成半桥，调节测微头使梁到水平位置（目测），调节电桥W1使万用表显示表显示为零，重复（4）过程同样测得读数，填入下表： X（mm） U（mv） 6、保持差动放大器增益不变，将R1，R2R1换成，R2换成 ）组桥时只要掌握对臂应变片的受力方向相同，邻臂应变片的受力方向相反即可，否则相互抵消没有输出。接成一个直流全桥，调节测微头使梁到水平位置，调节电桥W1同样使万用表显示为零。重复（4）过程将读出数据填入下表： X（mm） U（mv） 7、X-U曲线，比较三种接法的灵敏度。 注意事项： (1) 在更换应变片时应将直流恒压源关闭。 (2) 在实验过程中如有发现万用表发生过载，应将电压量程扩大。 (3) 在本实验中只能将放大器接成差动形式，否则系统不能正常工作。 (4)