实验三基本门电路逻辑功能的测试.docVIP

实验三 基本门电路逻辑功能的测试 一 实验目的 1 熟悉能主要门电路的逻辑功; 2 掌握基本门电路逻辑功能的测试方法. 二 使用仪器 DZX-2型电子学综合实验装置(简称实验台);双踪示波器;学生万用表. 三 实验原理 1 集成电路芯片介绍 数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式，其引脚排列规则如图1-1。其识别方法是：正对集成电路型号或看标记（左边的缺口或小圆点标记），从左下角开始按逆时针方向以1，2，3…依次排列到最后一脚。在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc一般排在左上端，接地端（GND）一般排在右下端，如74LS00。若集成芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。本实验采用的芯片是74LS00二输入四与非门、74LS20四输入二与非门、74LS02二输入四或非门、74LS04六非门，逻辑图及外引线排列图见图1-1。 2 逻辑表达式: 非门 1-1 2输入端与非门 1-2 4输入端与非门 1-3 或非门 1-4 对于与非门,其输入中任一个为低电平“0”时，输出便为高电平“1”。只有当所有输入都为高电平“1”时，输出才为低电平“0”。对于TTL逻辑电路，输入端如果悬空可看做；逻辑1，但为防止干扰信号引入，一般不悬空，可将多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。对MOS电路输入端不允许悬空。对于或非门，闲置输入端应接地或低电平。 四 实验内容及步骤 1 逻辑功能测试 ①与非门逻辑功能的测试： * 将74LS20插入实验台14P插座，注意集成块上的标记，不要插错。 * 将集成块Vcc端与电源+5V相连，GND与电源“地”相连。 * 选择其中一个与非门，将其4个输入端A、B、C、D分别与四个逻辑开关相连，输出端Y与逻辑笔或逻辑电平显示器相连，如图1-2。根据表1-1中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。 A B C D Y 1 1 1 1 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 0 0 0 0 ②或非门逻辑功能的测试： 将74LS02集成芯片按照上述方法插入实验台的14P插座，选择其中一个或非门，将其输入端与逻辑电平相连，输出端与逻辑笔相连，如图1-3。根据表1-2中输入端的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入其中。 A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1 ③用上述同样的方法测试74LS00、74JS04的逻辑功能。 2 传输性能和控制功能的测试 参照图1-4，从74LS00芯片中选取一个2输入与非门，A输入端接频率为1KHz的脉冲信号，B输入端接逻辑电平开关，输出端Y接示波器。用双踪示波器同时观察A输入 A B Y 1 0 端的脉冲波形和输出端Y的波形，并注意两者之间的相位关系。按表1-3的要求测试，并将结果填入表中。 参照图 1-5， 从74LS02芯片中选取一个2输入或非门，A输入端接频率为1KHz的脉冲信号，B输入端接逻辑电平开关，输出端Y接示波器，将测试结果填入表1-4。 A B Y 1 0 五 实验报告及要求 1 画出规范的测试电路图及各个表格。 2 记录测试所得数据，并对结果进行分析。 3 简述与非门、或非门闲置脚的和处理办法。 思考题 1、TTL器件与CMOS器件在处理不是用的输入管脚上有什么区别？ 2、为什么没有要求测量CMOS器件的电流参数？ 3、通过本次实验，总结TTL及CMOS器件的特点及使用的收获和体会。 实验一 门电路逻辑功能测试 一、实验目的 了解逻辑箱的结构，熟悉其使用方法；掌握门电路逻辑功能的测试。 二、实验仪器和器材 仪器：DS-1型EDA数字电路实验系统，GDM-8145数字万用表，SS-7802二踪示波器，EE1642B1型函数信号发生器，YB17