2_透射电子显微分析讲解.pptVIP

历 史 回 顾 1923：德布罗意（L.V.de broglie）提出物质波的假说； 1927：汤姆逊（G.P.Thomson）用电子衍射实验证实电子的波动性； 1933：卢斯卡(Ernst E.Ruska/德)等，制出第一台透射电镜；因此获86诺物 1938：Von Ardenne对扫描电镜的理论、实践进行了详细讨论， 并对其构造进行了描述； 1939：开始制成商品供应； 1940’：Hillier提出电子探针技术的设想并获专利； 1942：Zworykin等设计出第一台观察块状试样用的SEM； 1950’中期：Hirsch和Howie建立直接观察簿晶体中结构和缺 陷的衍射理论及实验技术； 1956：生产出第一台商品电子探针； 1965：制造出第一批商品扫描电镜； 70’年代初：形成高分辨电子显微术：观察试样中原子、分子 结构的手段。 2.2 透射电子显微分析 2.2.1 基本结构与原理 2.2.1.1 TEM的基本结构 2.2.1.2 基本原理 阿贝成像原理 平行光束受到周期结构 试样的散射作用，形成各级 衍射束，经透镜聚焦，会聚 于其后焦面上，以衍射花样 的形式将试样结构信息显示 出来。 然后，各级衍射束通过 干涉重新在像平面上会聚， 形成反映试样特