华为耳机外观检验标准.docVIP

华为耳机外观检验标准 检验环境、要求： 温度、湿度： 温度，15℃-35℃；湿度，20%-75%。 距离 人眼与被测物表面的距离为300mm-350mm 位置 初始时，产品与桌面成45度，检视角度垂直于产品检视面，随后产品上下左右各转动45度. 照明。 冷白荧光灯（光源在检测者正上方），光照度为700-1000 Lux 检视时间 外观表面标准检视时间为10±5S。允许最长检视时间15S。在这15S内缺陷仍不可见，则此检视件视为合格. 建议一级面检视时间为7s，二级面检视时间为5s，三级面检视时间为3s。 检视人员要求 检视人员视力需在1.0以上（含矫正视力） 检验工具： 直尺/卷尺，测试工装，菲林片，塞规。 缺陷代码表 代码 名称（单位） 代码 名称（单位） N 数目（个） D 直径(mm) L 长度(mm) H 深( 或高)度(mm) W 宽度(mm) DS 距离(mm) S 面积(mm2) 缺陷总数要求 单一零部件每个面允许有1个允收缺陷种类，但色差等缺陷不计入种类统计。A类标准外观缺陷不超过个外观缺陷不超过个。 外观不良项 A级标准 标准 同色点 D≤0.25,N≤2,DS≥15 D≤0.30,N≤2,DS≥15 （1）两个及两个以上的点缺陷之间距离不能小于15mm； （2）0.1≤D0.15缺陷点的数量N≥3时定义为麻点。 异色点 D≤0.20, N≤2,DS≥15 D≤0.25, N≤2,DS≥15 麻点 单位面积（100mm2）表示内N=3时允许有1处，大于3时不允许。在10mm×10mm的单位面积内，D≤0.1的缺陷点的数量N3则不计。 单位面积（100mm2）表示内N=3时允许有1处，大于3时不允许。在10mm×10mm的单位面积内，D≤0.1的缺陷点的数量N3则不计。 细划伤 耳塞壳体咪壳领夹 L≤3.0,W≤0.05, N≤1 耳塞壳体咪壳领夹 L≤3.0,W≤0.10, N≤1 （1）当w0.02mm时，细划伤忽略不计； （2）划伤之间距离不能小于15mm；当碰伤以点状形式存在时，以点缺陷规格要求。 插头、插头端子 L≤1.0,W≤0.05, N≤1 插头、插头端子 L≤1.0,W≤0.10, N≤1 线缆 L≤5.0,W≤0.15, N≤3 线缆 L≤10.0,W≤0.15, N≤3 硬划伤 耳塞壳体咪壳领夹 不允许 耳塞壳体咪壳领夹 不允许 插头、插头端子 不允许 插头、插头端子 不允许 线缆 L≤5.0,W≤0.10,N≤1 线缆 L≤5.0,W≤0.10, N≤1 压痕（线缆） 点状 D≤0.6,DS≥25,N≤3 点状 不管控 / 线状 L≤3,W≤1.0,DS≥25,N≤2 线状 不管控 扎带痕 允许但需依据签样。 扎带痕 允许但需依据签样。 修饰不良（合模线、毛边等） 1.耳塞上下壳、咪壳和耳机线体≤0.1且不刮手 插头外模/SR（老鼠尾）：H≤0.15 1.耳塞上下壳、咪壳和耳机线体≤0.1且不刮手 插头外模/SR（老鼠尾）：H≤0.15 / 脏污 不可擦除脏污：不允许 可擦除脏污：脏污比例≤5%(抽检比例) 不可擦除脏污：不允许 可擦除脏污：脏污比例≤15%(抽检比例) / 断裂、变形、生锈、氧化 不允许 不允许 如插头、PIN针等 色差 参照ID签样或限度样 参照ID签样或限度样 / 粗细不均（印刷或镭雕） |W1- W 2|≤0.1W1，即对标准W1允许的文字的不均匀度为±10%（W1为设计尺寸，W2为实际尺寸） / 图文倾斜 倾斜不超过1.5度 / 其他缺陷 若有争议，可参照签样。 / 终端耳机整机外观检验要求 间隙要求： A类标准 B类标准 备注 耳塞胶套与耳塞骨架 ≤0.15mm ≤0.20mm 不能看到喇叭缺口 耳塞胶套与耳塞骨架 ≤0.15mm ≤0.20mm 测量时耳塞与眼睛在同一高度，耳塞背部(L或R一面)正对眼睛 耳塞上下壳 ≤0.mm ≤0.20mm / 咪壳上下壳 ≤0.mm ≤0.20mm / 咪壳与SR ≤0.20mm ≤0.25mm 测量时耳麦正常放置在水平桌面上 插头注塑外模与连接器 ≤0.mm ≤0.15mm 适用于20pin插头耳机 A类标准 B类标准 备注 装配 ≤0.mm ≤0.20mm 软胶塞比耳机胶塞座直径大 超声波 ≤0.20mm ≤0.20