13第六章电子系统可靠性设计01范例.pptVIP

由于元件生产时质量控制不佳，不同批次元件之间参数常常有较大的差异，除了选用参数公差、标准偏差较小的批次的元件外，最好能把购到的元件进行抽样实测，取得平均值及标准偏差，以便设计时使用。 1.最坏情况分析 当仅知道参数变化的最大范围时，我们可以使用最坏情况这种分析方法。现举例说明如下： 电路边缘性能设计是很有必要的，即应进行以下的分析。 上面讲到的初步设计即传统的功能设计方法，随后进行的工作即电路边缘性能设计,为了保证电子线路的可靠性。 注：在最坏情况设计中，上方有横线的参数字母表示该参数的最大值，下方有横线者为该参数的最小值。 例6-2 图6-7为反相器电路中电阻有±10%的极限扁差，三极管的参数hfe（共发射极放大系数）的变化为20~70，EC=5V，Vbes=0.8V，Vces=0.3V均不变。 图 6-7 反相器电路 试问如何选择驱动信号VS才能使电路可靠地工作？ 上式中N为保证可靠地驱动该电路的系数，一般情况取 N = 2。 图 6-7 反相器电路 另外实际电路的驱动电流 ： 为了可靠地驱动该电路，必须任何情况下 : 最坏情况设计的目的是要求在最坏情况下，仍能够保证有足够的驱动电流，即 由（1）可得： 由（2）可得： 将（4）、（5）分别带入（3）得： 可见，如果选Vs = 7 V则可保证该电路能可靠地工作。 例6-3 现有一个电子管放大器，其放大率A为 解：由上计算式可知，当温度为+125℃时，放大率A为最大值，即 当温度为-50℃时，放大率A为最小值，即 在最坏情况分析中还应考虑寿命末期（EOL）元件电参数的预期变化，这种变化是用初始的最小值或最大值的百分数来表示的。 根据有关美军标准对于各种元器件都规定了寿命末期设计界限，大家在进行线路最坏情况分析时，请注意使用有关数据。 返 回1 随着元器件随时间的老化，电路的性能指标也不断下降。当性能指标W下降到一定程度时，即当WWL时，电路就失效，这个“WL” 值称之为失效阀值。 2. 电路漂移分析 一般地说，电路性能指标是正态分布的，它将整个地随时间而漂移。“” 电路的可靠性（即可靠度）为性能正态分布曲线在失效阀值以上部分的面积，见图6-8。 图6-8 电路性能指标漂移图 为了简化分析，假定性能 W 的分布为（均匀分布）矩形，其高度为 h，宽度为 2△W ,且性能随时间漂移为 (其中a,b为常数)，见图6-9。 图6-9 电路性能指标漂移图 若把性能指标X按t = 0 时的性能指标X0归一化，即有性能： 由概率论概念，可有： 图 6-9电路性能指标漂移图 同时可得(均匀分布)： 图 6-9电路性能指标漂移图 由于W的分布为矩形，在矩形下缘碰到失效阈值WL以前电路不会失效(见图6-9)。所以电路的绝对无故障时间 td可如下推导： 图 6-9电路性能指标漂移图 图 6-9电路性能指标漂移图 当 t td 时，性能正常的概率（即电路可靠性）Ps应为矩形在WL以上部分的面积： 性能W漂移刚至性能正常概率为0时,此时电路绝对失效，矩形上边与失效阈值WL重合的时间tT可如下推导。 图 6-9电路性能指标漂移图 图 6-9电路性能指标漂移图 图 6-9电路性能指标漂移图 以上是在假定性能分布为矩形，漂移函数为 的情况下推导出来的结论，对于其它不同分布和漂移函数也可这样进行推导，此处不再介绍。 图 6-9电路性能指标漂移图 返 回1 3. 元器件误差统计分析 设各元件参数 X1 , X2 , …, Xn 是随机变量，且在统计上互相独立，各自服从正态分布，标准偏差 ,与各自的均值 m1 , m2 ,…,mn相比很小,则电路的性能指标 Y = f (x1,x2,…, xn) 的均值 my 和方差 计算式为 元器件误差的性质分 系统误差 随机误差 元器件的系统误差有正、负（+、-）之分。它可以通过适当地选择参数进行补偿。随机误差是不能补偿的。通过误差分析可以得到其对系统性能的影响大小。 * 第六章??? 电子系统的可靠性设计（1） 第一节 元器件的选用与控制 ----------------------------------（5） 三、电子元件的减额使用（降额使用）----------（12） 第二节 电路与系统的可靠性设计------------------------------