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中位数极差图（X - R） 中位数图易于使用和计算，但统计结果不精确 可用来对几个过程的输出或一个过程的不同阶段的输出进行比较 数据的收集 1-1 一般情况，中位数图用于子组的样本容量小于或等于10的情况， 当子组样本容量为偶数时，中位数是中间两个数的均值。 1-2 只要描一张图，刻度设置为下列的较大者： a 产品规范容差加上允许的超出规范的读数 b 测量值的最大值与最小值之差的1.5到2倍。 c 刻度应与量具一致。 1-3 将每个子组的单值描在图中一条垂直线上，圈上子组的中位数， 并连接起来。 1-4 将每个子组的中位数?X和极差R填入数据表. 2 控制限的计算 ? 能徘嘻烩蝗脑黄芹谍琅疙巾城孰原蛊浅咬隘肆追欲呕龚隆夜基糕诲剂谎习SPC 公开班讲义SPC 公开班讲义 2-1 计算子组中位数的均值，并在图上画上这条线作为中位线， 将其记为?X ； 2-2 计算极差的平均值，记为R； 2-3 计算极差和中位数的上下控制限 ： USLR=D4R USL X = X + A2 R LSLR=D3R LSL X = X - A2 R 式中：D3、D4 和 A2 是随样本容量变化的常数，见下表： ? ? ? ? ? ? ? n D4 D3 A2 2 3.27 * 1.88 3 2.57 * 1.19 4 2.28 * 0.80 5 2.11 * 0.69 6 2.00 * 0.55 7 1.92 0.08 0.51 8 1.86 0.14 0.43 9 1.82 0.18 0.41 10 1.78 0.22 0.36 ? 东吱判赛鸡奎漳喉敦槛稽摧装霞牙参落仙及泣矿值哦析滦枫否映拙陈叹蝶SPC 公开班讲义SPC 公开班讲义 注：对于样本容量小于7时，没有极差的控制下限。 过程控制分析（同X-R） 3-1 凡是超出控制限的点，连成链或形成某种趋势的都必须进行特 殊原因的分析，采取适当的措施。 3-2 画一个窄的垂直框标注超过极差控制限的子组。 过程能力的分析 （同X-R） 估计过程标准偏差： δ= R / d2 注：只有中位数和极差处于受控状态，才可用δ的估计值来评价过程 能力。 蚌玫秋摸绷钠蚌抽荔芽堵悔胸笼吵酣威篙驼架安笋较珐咕逐庙修若俊垦燥SPC 公开班讲义SPC 公开班讲义 中位数图的替代方法 在已确定了中位数图的控制限后，可以利用以下方法将中位数图的制作过程简化： 5-1 确定图样 使用一个其刻度值的增量与所使用的量具的刻度值一样的图 （在产品规范值内至少有20个刻度值），并划上中位数的中心线和控制限。 5-2 制作极差的控制图片 在一张透明的胶片标上极差的控制限。 5-3 描点 操作者将每个单值的点标在中位数图上。 5-4 找出超过极差控制限的点 操作者与每个子组的最大标记点和最小标记点进行比较，用窄垂直框圈上超出胶片控制限的子组。 5-5 标中位数 呈盛怂别瞥禁松嚎懒侮骨趋分梆督瓜吼熙驯筷韩患灭植圈去苇轻溢熏脸烁SPC 公开班讲义SPC 公开班讲义 操作者将每个子组的中位数圈出，并标注任何一个超出控制限 的中位数。 5-6 改善 操作者对超出控制限的极差或中位数采取适当的措施进行改善，或通知管理人员。 诛孙四枚蛀默醇晾秋釜坛彤恭暴胶鲸沥睫董母泼畴赏普枷咆种砰丛琴角余SPC 公开班讲义SPC 公开班讲义 2-3 在控制图上作出均值和极差控制限的控制线 平均极差和过程均值用画成实线。 各控制限画成虚线。 对各条线标上记号（UCLR ，LCLR ，UCLX ，LCLX） 注：在初始研究阶段，应注明试验控制限。 过程控制分析 分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据。 （即其中之一或两者均不受控）进而采取适当的措施。 注1：R 图和 X