触发器–Flip-flops.pptVIP

* * * 主从式触发器也叫做脉冲触发式触发器。其特点是数据在第一个沿锁入触发器，第二个沿后数据出现在输出端。主从式触发器基本上已经被边沿触发式触发器所取代。 * * * sunwq@sjtu.edu.cn * 将555定时器接成多谐振荡器 sunwq@sjtu.edu.cn * 将555定时器接成多谐振荡器 sunwq@sjtu.edu.cn * 将555定时器接成多谐振荡器 sunwq@sjtu.edu.cn * 将555定时器接成多谐振荡器 sunwq@sjtu.edu.cn * 本部分小结 双稳态元件 锁存器 触发器 按照触发方式来分： 脉冲触发式（主从式） 边沿触发式 按照功能来分 RS触发器 D触发器 JK触发器 T触发器 触发器的简单应用 555定时器 sunwq@sjtu.edu.cn * 作业 2，4 8，12，17，20，21，29，34（555） * 所谓的双稳态元件（或者电路），是指电路有两个稳定的状态，即置位状态和复位状态。Q为1的状态称为置位状态，而Q为0的状态称为复位状态。 * * * * * * * 锁存器的作用：例如在一个计算机系统中，有非常多的外设，这些外设都需要和处理器交互信息。当一个外设有数据到达，比如说鼠标发生移动时，外设需要将信息传递给处理器。但是处理器这个时候可能忙碌（正在处理别的任务）。这个时候，外设就需要暂时将信息保留，等待处理器空闲的时候再读取。而处理器读取完毕数据以后，外设才可以将数据从总线上撤销。 1)S=1,R=0,锁存器进入置位状态，Q=1，QN=0 2)R=1,S=0,锁存器复位，Q=0,QN=1 3)同1 4)同2 5)S和R同时为1，Q=QN=1 6)S撤销，锁存器复位，Q=0,QN=1 7)同1 8)同5 9)R撤销，锁存器置位 10)同2 11)同5 12)S和R同时撤销，存在竞争现象。输出端的状态不定。谁后撤销，状态由谁决定。 * S’-R’锁存器也称为低电平有效的S-R锁存器。也就是说，S为低电平的时候，锁存器置位，即Q输出1；R为低电平的时候，Q’输出1。 * S’-R’锁存器可以用来消除开关上的抖动。如图所示，当开关由2打到1的时候，红圈所在的位置的输出会有抖动。在输出前接一个锁存器可以解决这个问题。 * S’-R’锁存器可以用来消除开关上的抖动。如图所示，当开关由2打到1的时候，红圈所在的位置的输出会有抖动。在输出前接一个锁存器可以解决这个问题。 * * * * * * * * * * * * * 扫描触发器除了D输入端以外，还有两个输入端。TI即Test Input，用来输入测试序列（测试向量）。TE即Test Enable，用来控制触发器工作状态。TE为0时触发器工作在正常状态，功能和D 触发器一样。TE为1时，触发器工作在测试状态。 * 当TE无效时，电路特性和普通的D触发器没有区别。触发器工作在正常模式下。 当TE有效时，D输入被禁止，触发器的数据从TI输入。这样，当所有寄存器工作在测试模式时，我们就可以从外部的TI输入“扫入”测试向量。扫入完毕以后，撤销TE，触发器回到正常工作模式，以刚才扫入的测试向量作为初始状态开始工作。工作若干个时钟周期以后，触发器再次进入测试模式，这时结果就可以被“扫出”。 * 当TE无效时，电路特性和普通的D触发器没有区别。触发器工作在正常模式下。 当TE有效时，D输入被禁止，触发器的数据从TI输入。这样，当所有寄存器工作在测试模式时，我们就可以从外部的TI输入“扫入”测试向量。扫入完毕以后，撤销TE，触发器回到正常工作模式，以刚才扫入的测试向量作为初始状态开始工作。工作若干个时钟周期以后，触发器再次进入测试模式，这时结果就可以被“扫出”。 sunwq@sjtu.edu.cn * 触发器和锁存器再比较 D锁存器 上升沿触发的D触发器 CLK 锁存器(Latch) 连续地监测其输入，并且独立于时钟信号而在任何时候都可以改变输出 触发器(Flip-flop) 连续地监测输入信号，并只在时钟信号所确定的时刻改变其输出 同步(Synchronous)：与时钟信号同步 sunwq@sjtu.edu.cn * 扫描触发器 TE: Test Eable,测试使能 TI: Test Input, 测试输入 sunwq@sjtu.edu.cn * 扫描触发器 当TE有效时，D输入被禁止，触发器的数据从TI输入。 sunwq@sjtu.edu.cn * 扫描触发器 当TE无效时，电路特性和普通的D触发器没有区别。 sunwq@sjtu.edu.cn * 边沿触发式J-K触发器 sunwq@sjtu.edu.cn * T(Toggle)触发器 sunwq@sjtu.edu.cn * 边沿触发式触发器的一些商用电路 sunwq@sjtu