大学电子技术实验一基本逻辑门的参数及特性测试.docVIP

第二部分 数字电子技术实验 实验一 基本逻辑门电路参数测试 一、实验目的 掌握TTL 与非门电路集成芯片的外形、引脚图和各引脚的作用。 掌握TTL 与非门电路主要参数和电压传输特性的测试方法。 掌握测试CMOS 门电路参数的测试方法及使用规则。 通过上面的测试加深对两种器件的认识以及正确的使用方法。 二、预习要求 阅读数字电子基础教材第四章的内容。 查阅集成电路器件（见附图），熟悉74LS00、74HC20的电路功能以及引脚结构图。 阅读本实验的实验原理和测试方法。 掌握数字万用表和示波器的使用方法。 三、实验内容 1、TTL与非门的静态参数测试，以74LS00、74LS20为例。 2、TTL 与非门的动态参数测试。以74LS00、74LS04为例。 3、CMOS门电路参数及逻辑功能测试。 四、实验原理与测试方法 1、TTL 与非门的静态参数测试。 （1）低电平输入电流 　　TTL 与非门某一输入端接地，其余输入端均悬空，流过接地输入端的电流称为输入低电平电流，或称为输入短路电流。 　　 在实际应用中，相当于前级门输出低电平时后级向前级门灌入的电流，因而的大小影响到前级门低电平输出时驱动该类型负载门的个数。的测试电路如图1.1所示。 （2）高电平输入电流 　TTL 与非门某一输入端接高电平，其余输入端均接地，流过接高电平输入端的电流称为输入高电平电流。 在多级门电路中， 当前一级门输出高电平时，就是前级门的拉电流负载， 因而的大小影响到前级门高电平输出时驱动该类型负载门的个数。的测试电路如 图1.2 所示。 图1.1 输入短路电流的测试电路 图1.2 高电平输入电流的测试电路 （3）关门电平 　　与非门的一个输入接V1，其它输入端悬空，慢慢增大V1，使门电路的输出高电平达 到其下限值时所对应的输入电平称为该门的关门电平。测试方法如图1.3 所示。 （4）开门电平 　　与非门带上额定负载后，调节输入电平，使门的输出达到低电平的规定上限值 时所对应的输入高电平值，就是该门的开门电平。测试方法如图1.4所示。 图1.3关门电平测试电路 测试电路 TTL与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载。 灌电流负载时，所能驱动同类型门的个数为低电平扇出系数； 拉电流负载时，所能驱动同类型门的个数为高电平扇出系数。 A：低电平扇出系数的测试方法： 在门的某一输入端接上开门电平，其它输入端悬空，输出端接灌电流负载，如图1.5所示。调节使增大，此时升高，当达到 时的就是允许灌入的最大电流。由此计算出低电平扇出系数公式(a)。 公式： (a) 公式： (b) B：高电平扇出系数的测试方法： 在门的某一输入端接上关门电平，其它输入端悬空，输出端接拉电流负载，如图1.6所 示。调节使增大，此时降低，当达到时的就是允许最大拉 电流 。由此计算出高电平扇出系数公式（b）。 图1.5 低电平扇出系数的测试电路 图1.6高电平扇出系数的测试电路 TTL与非门动态参数测试 （1）电压传输特性 电压传输特性是指输出电压随输入电压变化的关系曲线]。它能够充分地显示与非门的逻辑关系利用电位器调节被测输入电压，按表的要求逐点测出输出电压，将结果记入表中，再根据实测数据绘出电压传输特性曲线 图1.7 电压传输特性的测试电路 图1.8平均传输延迟时间的测试电路 表 电压传输特性测试数据表 （V） 0 0. 0.8 1.2 1.6 1.8 2.0 2.4 2.6 2.8 3.0 3.5 4.0 4.5 （V） 描述门电路开关速度的动态参数。当与非门的输入为一方波时，其输出波形的上升沿和下降沿均有一定的延迟时间。 设上升延迟时间为，下降延迟时间为，平均传输延迟时间为： 可用公式表示： ；一般为几纳秒至几十纳秒。测试方法如图1.8所示。 用74LS04六反相器按图1.8 接线, 在输入端接50KHZ连续脉冲， 用双踪示波器测试输入、输出相位差，计算每个门的平均传输延迟时间的值。 （3）与非门的动态特性测试 如图1.9所示，在74LS00与非门的一个输入端（X）接一脉冲信号，另一输入端（Y）接在电平开关，将电平开关（Y）分别放在Y=0和Y=1两种状