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5.如果散布点的分布呈现杂乱，没有任何倾向时，称为无相关，也就是说X与Y之间没有任何的关系，这时应再一次先将数据层别化之后再分析，如下图所示： 0 X Y 6.假设X增大，Y也随之增大，但是X增大到某一值之后，Y反而开始减少，因此产生散布图点的分布有曲线倾向的形态，称为曲线相关，如下图所示： 0 X Y 作业过程中，电子束的强度（power),影响产品的膜度（tic ness)，希望找出二者间的相互关系。 ● 实例练习 1、收集数据。 X=强度（KV） Y=膜度（um） 3.8 60 5 49 80 4 5.4 100 3 4.7 70 2 3.2 50 1 Y X NO. 4.3 70 10 4.5 70 9 5.0 90 8 5.1 90 7 3.4 50 6 Y X NO. 2、找出X，Y的最大值及最小值。 Xmax=100 Ymax=5.4 Xmin=50 Ymin=3.2 3、划出来X-Y轴的座标并取适当刻度。 5.0 4.0 3.0 50 60 70 80 90 100 4、将数据点绘X-Y座标中。 X=强度（KV） Y=膜度（um) 5.0 4.0 3.0 50 60 70 80 90 100 第六章 直方图 ● 何谓直方图？ 直方图就是将所收集的数据，特性质或结果值，用一定的范围在横轴上加以区分成几个相等的区间，将各区间内的测定值所出现的次数累积起来的面积用柱形画出的图形。 ● 直方图的制作步骤： 1.收集数据并且记录在纸上。 2.找出数据中的最大值与最小值。 3.计算全距。 4.决定组数与组距。 5.决定各组的上组界与下组界。 6.决定组的中心点。 7.制作次数分配表。 8.制作直方图。 ● 直方图名词解释 1.求全距：在所有数据中的最大值与最小值的差。 2.决定组数 组数过少，虽可得到相当简单的表格，但却失去次数分配的本质，组数过多，虽然表列详尽，但无法达到简化的目的。（异常值应先除去再分组。） 分组不宜过多，也不宜过少，一般用数学家史特吉斯提出的公式算组数，其公式如下： K=1+3.32 Lgn 一般对数据之分组可参考下表： 组数 数据数 10～20 250个以上 7～12 100～250 6～10 50～100 3.组距 组距=全距/组数 C=R/k 组距一股取5，10或2的倍数 4.决定各组之上下组界 最小一组的下组界=最小值-测定值之最小位数/2，测定值的最小位数确定方法：如数据为整数，取1;如数据为小数取小数所精确到的最后一位（0.1，0.01，0.001……） 最小一组的上组界=下组界+组距 第二组的下组界=最小一组的上组界 其余以此类推 5.计算各组的组中点 各组的组中点=下组距+组距/2 6.作次数分配表 将所有数据依其数值大小划记相应的组，并计算出其次数。 7.以横轴表各组的组中点，从轴表示次数，绘出直方图。 某电缆广有两台生产设备，最近，经常有不符合规格值（135～210g)异常产品发生，今就A、B两台设备分别测定50批产品，请解析并回答下列回题： 1.作全距数据的直方图。 2.作A、B两台设备之层别图。 3.叙述由直方图所得的情报。 ● 实例1 155 148 169 142 153 170 155 176 169 165 146 158 163 151 160 167 162 171 173 154 156 152 160 155 177 188 184 172 174 167 153 169 137 170 172 161 175 163 183 176 162 157 144 166 150 179 166 167 177 173 173 164 165 158 157 176 178 194 169 187 163 157 157 119 132 160 180 185 160 179 162 139 170 162 161 150 186 177 182 169 123 136 150 150 167 172 170 184 188 168 161 152 165 148 156 183 165 168 179 167 B设备 A设备 1.全部数据的最大值为194，最小值119根据经验值取组数为10， 组距=(194-119)/10=7.5 取8 最小一组的下组界=最小值-测定值是最小位数/2 119-1/2=118.5 最小一值的上组界=下组界+组距 118.5+8=126.5 中心线=X 解： 作次数分配表 50 50 100 合计 1