SPC知识简介讲述.ppt

五、分析用控制图与控制用控制图 判异准则 常规控制图的标准GB/T 4091—2001有八种准则 * 六、常规控制图的计算 A收集数据 B计算控制限 主要分以下两个方面: A.数据收集； 2.计算控制限。 * X-R图 Ａ阶段收集数据 A1选择子组大小、频率和数据 子組大小 子组频率 自组数大小 A2建立控制图、记录原始数据 A3计算每个子组的均值X-bar和极差R A4选择控制图的刻度 A5将均值和极差画到控制图上 六、常规控制图的计算 * 取样必须组内变异小，组间变异大 样本数、频率、组数的说明(最少25组) 六、常规控制图的计算 * 平均值的计算 极差R值的计算 六、常规控制图的计算 * Ｂ计算控制限 B1计算平均极差及过程平均值 B2计算控制限 B3在控制图上作出平均值和 极差控制限的控制线 X-R图 六、常规控制图的计算 * 六、常规控制图的计算 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * * * * 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 式中：D4、D3、A2为常数，它们随样本容量的不同而不同，下表是样本容量从2到10的一个表： *对于样本容量小于7的情况,LCLR可能技术上为一个负值.在这种情况下没有下控制限,这意味着对于一个样本数为6的子组,6个“同样的”测量结果是可能成立的。 制程能力指数Ca或ｋ(准确度；Accuracy)：表示制程特性中心位置的偏移程度，值等于零，即不偏移。值越大偏移越大，越小偏移越小。 制程精密度Cp 、CPU、CPL Cp(Capability of Precision)：表示制程特性的一致性程度，值越大越集中，越小越分散。 七、过程能力分析 1.过程能力：是指过程加工质量方面的能力，它是衡量过程加工内在一致性的。 注意：SPC的基准就是统计控制状态或称稳态，过程能力即稳态下所能达到的最小变差。 过程能力反映了稳态下该过程本身所表现的最佳性能（分布宽度最小）。 因此，在稳态下，过程的性能是可预测的，过程能力是可评价的。 离开稳态这个基准，对过程就无法预测，也无法评价。 USL：规格/设计上限 (UPPER SPEC. LIMIT) LSL：规格/设计下限 (LOWER SPEC. LIMIT) UCL：控制上限 (UPPER CONTROL LIMIT) LCL：控制下限 (LOWER CONTROL LIMIT) X：平均值 (MEAN , PROCESS MEAN) S:：标准差 (STANDARD DEVIATION ? ) UCL = X + 3? LCL = X - 3 ? ? = Design Mean（规格中心值） T = USL-LSL 2.计算过程能力指数涉及的概念 3.制程能力指数 Cp 七、过程能力分析 4.有偏移制程能力指数 Cpk 当Ca ＝ 0 时，代表量测制程之实绩平均值与规格中心相同；无偏移当Ca ＝ ±1 时，代表量测制程之实绩平均值与规格上或下限相同；偏移100% 单边规格(设计规格)因没有规格中心值，故不计算Ca 单边规格(设计规格)因没有规格上限或下限 没有规格下限 Cp ＝ CPU ＝ Cpk没有规格上限 Cp ＝ CPL ＝ Cpk 七、过程能力分析 七、过程能力分析 * * * * * * * * * * * * * * * * 三.极差、方差（S2）标准差（SD）：都是描述数据的“离散度”程度的“特征数” 1.极差：一组数据中最大值与最小值之差值，用”R”表示 R=XMAX-XMIN 2.离均差的平方和：将数据与均值之差（我们叫它离均差）平方后相加，反映出一个准确的离散程度。 3.方差（S2 ）由于离均差的平方和与样本个数有关，只能反应相同样本的离散度，而实际工作中做比较 很难做到相同的样本，因此为了消除样本个数的影响，增加可比性，将标准差求平均值，这就是我们所 说的方差。 样本量越大越能反映真实的情况，而算数均值却完全忽略了这个问题，对此统计学上早有考虑，在统计学中样本的方差多是除以自由度（n-1)，它是意思是样本能自由选择的程度。当选到只剩一个时，它不可能再有自由了，所以自由度是n-1。 4.标准差（SD）　由于方差是数据的平方，与检测值本身相差太大，人们难以直观的衡量，所以常用方 差开根号换算回来这就是我们要说的标准差。 三、实施SPC需掌握的相关