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材料研究与测试法方题库.docVIP

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材料研究与测试法方题库

二、判断题 请判断下列说法是否正确?(认为正确请打勾, 否则打叉) P1加大管电流和管电压,都可以使白色X射线的强度增大。() P2加大管电流,可以使白色X射线的强度增大;但加大管电压,不能使白色X射线的强度增大。() P3加大管电流和管电压,都不能使白色X射线的强度增大。() P4加大管电流和管电压,都可以使白色X射线的短波限增大。() P5加大管电流和管电压,都不能使白色X射线的短波限增大。() P6加大管电流和管电压,都可以使白色X射线的短波限减小。() P7加大管电流,可以使白色X射线的短波限增大。() P8加大管电压,可以使白色X射线的短波限增大。() P9在管电流和管电压不变的条件下,加大靶元素的原子序数,可以使白色X射线的强度增大。() P10在管电流和管电压不变的条件下,加大靶元素的原子序数,可以使白色X射线的短波限λ0增大。() P11在管电流和管电压不变的条件下,加大靶元素的原子序数,可以使白色X射线的短波限λ0减小。() P12衍射X射线的强度与入射X射线的强度正相关。() P13衍射X射线的强度与入射X射线的强度无关。() P14晶体结构对称程度越高,多重性因子P值就越大,某一特定面网的衍射X射线的强度也越大。( ) P15晶体结构对称程度越高,某一特定面网的衍射X射线的强度也越小。() P16对于某一特定晶体,其X射线的强度随Bragg角θ的加大而变大。() P17对于某一特定晶体,其X射线的强度随Bragg角θ的加大而变小。() P19对于某一特定晶体,其衍射X射线的强度随实验温度的加大而变大。() P20对于某一特定晶体,其衍射X射线的强度随实验温度的加大而变小。() P21 Debye图中的点状线是由颗粒过细造成的。() P22 Debye图中的点状线是由颗粒过粗造成的。() P23 Debye图中的点状衍射线的现象往往是由颗粒受到应力引起的。() P24 Debye图中的衍射线的宽化现象可以由颗粒过细造成的。() P25 Debye图中的衍射线的宽化现象可以由颗粒过粗造成的。() P26 Debye图中的衍射线的宽化现象可以由颗粒受到应力引起的。() P27矿物中以结构水的形式存在的水指的是参加晶格的H2O。() P28矿物中以结晶水的形式存在的水指的是参加晶格的羟基OH-。() P29矿物中以结构水的形式存在的水指的是参加晶格的羟基OH-。() P30矿物中以结晶水的形式存在的水指的是参加晶格的H2O。() P31胶体水指的是吸附在晶体表面的H2O。() P32层间水是存在于存在于层状结构晶体层中、以H2O形式存在的水。() P33对于固定的靶,晶体面网的衍射指数HKL越大,其衍射角也越大。() P34对于固定的靶,晶体面网的衍射指数HKL越大,其衍射角也越小。() P35X射线滤波片的作用是滤去Kβ射线,保留Kα射线。() P36 X射线滤波片的作用是滤去Kα射线,保留Kβ射线。() P37 X射线滤波片的作用是滤去Kα2射线,保留Kα1射线。()X射线滤波片的作用是滤去Kβ和Kα2射线,保留Kα1射线。( ) P38提高光学显微镜的分辨率的方法包括减小波长,提高透镜孔径角和观察介质的折射率。() P39提高光学显微镜的分辨率的方法包括加大波长,提高透镜孔径角和观察介质的折射率。() P40提高电子显微镜的分辨率的方法包括加大加速电压,减小像差。() P41提高电子显微镜的分辨率的方法包括减小加速电压,以减小像差。() P42电子显微镜在实验时抽真空的作用包括提高电子枪的使用寿命。() P43用Cu/Ni(λ=1.54178 ?)照射金刚石晶体(SG = Oh5-Fm3m,a = 3.56 ?),因为系统消光,观察不到111,311,331,333等衍射符号全为奇数的衍射线。() P44用Cu/Ni(λ=1.54178 ?)照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m, a = 3.56 ?),因为系统消光,观察不到200,400,600,220,440,444等衍射符号全为偶数的衍射线。() P45用Cu/Ni(λ=1.54178 ?)照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m, a = 3.56 ?),因为系统消光,观察不到100,211,301,210,321等衍射符号奇偶数混杂的衍射线。()00 P46用Cu/Ni(λ=1.54178 ?) 照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m, a=3.56 ?),观察不到800衍射线。() P47用Cu/Ni(λ=1.54178 ?) 照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m,a = 3.56 ?),观察不到800衍射线原因与不满足布拉格方程。() P48Cu/Ni(λ=1.54178 ?) 照射金刚石晶体((SG=Oh7-d3m,a = 3.56

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